材料測(cè)試寶典——23項(xiàng)常見(jiàn)測(cè)試全解析
定 價(jià)：58 元
- 作者：科學(xué)指南針團(tuán)隊(duì) 編
- 出版時(shí)間：2022/1/1
- ISBN：9787308220262
- 出 版 社：浙江大學(xué)出版社
- 中圖法分類：TB3
- 頁(yè)碼：337
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開(kāi)本：16開(kāi)
《材料測(cè)試寶典——23項(xiàng)常見(jiàn)測(cè)試全解析》介紹了科研中常見(jiàn)材料測(cè)試儀器的原理和數(shù)據(jù)解析以及實(shí)測(cè)問(wèn)題解答，具體內(nèi)容包括：形貌分析、成分分析、結(jié)構(gòu)分析等篇章。
《材料測(cè)試寶典——23項(xiàng)常見(jiàn)測(cè)試全解析》可作為材料、化學(xué)、生物等學(xué)科的科研工作者的科研參考書，也可供從事研發(fā)及分析檢測(cè)工作的技術(shù)人員參考。
把實(shí)驗(yàn)測(cè)試做好，是生化環(huán)材類研究者最基礎(chǔ)的事。
無(wú)論是為了發(fā)表學(xué)術(shù)論文，還是要找到元器件失效的原因，甚至是要找到刑事案件的犯罪嫌疑人，一個(gè)基礎(chǔ)就是：有沒(méi)有足夠的證據(jù)去證明你的結(jié)論。而各類實(shí)驗(yàn)測(cè)試表征方法的提出和發(fā)展，就是為了幫助研究者找到更嚴(yán)謹(jǐn)和更多角度的論據(jù)。實(shí)驗(yàn)測(cè)試表征方法，如同研究者的眼睛，對(duì)測(cè)試知識(shí)的涉獵越多，你能夠看到的也越多。
最讓人高興的是，研究者不必自己全部做測(cè)試，而是可以找自己研究單位的測(cè)試中心或者科學(xué)指南針等第三方服務(wù)機(jī)構(gòu)，只需要把樣品送過(guò)去測(cè)試就行，這就省事得多。
現(xiàn)在市面上很多講材料測(cè)試表征的書，介紹的都是單種儀器的原理，而本書卻把所有的儀器表征方法放在了一起來(lái)進(jìn)行比較和總結(jié)，簡(jiǎn)化原理，重視樣品制備和數(shù)據(jù)處理。這是出于什么考慮呢？
雖然儀器原理無(wú)比重要，但儀器畢竟不一定由研究者親自操作，研究者不必全部了解。研究者需要弄清的是，該把怎樣的樣品，送到什么儀器里面測(cè)試，才能夠得到想要的結(jié)果。這樣才會(huì)比較根本地搞清楚，各類測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)是什么，需要什么數(shù)據(jù)來(lái)支持自己的研究結(jié)論，儀器能夠提供什么，以及最有趣的——搞清楚自己的樣品到底是什么。
研究者會(huì)做各類測(cè)試，有時(shí)候也會(huì)同樣的測(cè)試反復(fù)做。如果得到想要的結(jié)果，會(huì)很欣喜，覺(jué)得測(cè)試做得很好；有時(shí)候沒(méi)有得到想要的結(jié)果，會(huì)很疑惑，懷疑測(cè)試有問(wèn)題。然而，如果研究者采用了不合適的樣品，使用了不合適的儀器去表征，使用了不合適的數(shù)據(jù)分析方法，就算得到了想要的結(jié)果，也是不足以成為研究成果中的有力論據(jù)的。
因此，我們認(rèn)為每位基層研究者，都應(yīng)該自己找個(gè)空當(dāng)，把各類測(cè)試表征方法再系統(tǒng)性地過(guò)一遍，反思一下這個(gè)問(wèn)題：“我得到的結(jié)果是不是可靠的結(jié)果？”
為此，我們整理了5年100多萬(wàn)人次的測(cè)試表征經(jīng)驗(yàn)，希望給不常親自操作儀器的研究者們，提供一本通俗易懂的，關(guān)于測(cè)試手段的正確選用、樣品的準(zhǔn)確制備以及合理的數(shù)據(jù)分析方法的工具書。這就是本書編寫的最終目的。
本書適合材料、化學(xué)、化工、環(huán)境等相關(guān)專業(yè)領(lǐng)域的高年級(jí)本科生、碩士研究生、博士研究生、青年教師、研究人員學(xué)習(xí)參考，也適合從事材料研發(fā)、化工原料分析、材料失效分析、環(huán)境分析、藥物分析等研究的工作者使用。
最后，由于筆者才疏學(xué)淺，書中錯(cuò)誤難免，希望各位讀者不吝賜教，以利校正。關(guān)于測(cè)試表征的手段方法日新月異，盡管筆者試圖盡力關(guān)注，但由于篇幅有限，不能全部列出，還望讀者海涵。
第一篇 形貌分析
第1章 掃描電子顯微鏡
1．1 SEM原理及應(yīng)用
1．2 樣品制備
1．3 成像模式
1．4 其他類型掃描電鏡
1．5 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第2章 透射電鏡
2．1 透射電鏡原理
2．2 樣品測(cè)試
2．3 樣品制備
2．4 測(cè)試項(xiàng)目
2．5 圖像處理和定量分析
2．6 案例分享
2．7 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第3章 原子力顯微鏡
3．1 AFM成像原理及基本介紹
3．2 AFM的工作模式
3．3 常見(jiàn)儀器對(duì)比
3．4 AFM成像的應(yīng)用
3．5 AFM的樣品制備
3．6 AFM圖像假象及數(shù)據(jù)分析
3．7 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第二篇 成分分析
第4章 X射線光電子能譜
4．1 原理及應(yīng)用
4．2 測(cè)試樣品
4．3 測(cè)試項(xiàng)目
4．4 數(shù)據(jù)分析軟件使用
4．5 案例分享
4．6 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第5章 X射線熒光光譜儀
5．1 原理及應(yīng)用
5．2 常見(jiàn)儀器
5．3 測(cè)試樣品
5．4 測(cè)試項(xiàng)目及數(shù)據(jù)解讀
5．5 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第6章 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀
6．1 原理及應(yīng)用
6．2 儀器的基本組成
6．3 測(cè)試樣品
6．4 測(cè)試項(xiàng)目及參數(shù)解讀
6．5 案例分享
6．6 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第7章 常用熱分析技術(shù)
7．1 典型熱分析原理、核心部件與應(yīng)用
7．2 測(cè)試項(xiàng)目講解
7．3 樣品要求與實(shí)驗(yàn)參數(shù)影響
7．4 數(shù)據(jù)處理
7．5 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第8章 有機(jī)元素分析儀
8．1 測(cè)試原理
8．2 應(yīng)用領(lǐng)域
8．3 常見(jiàn)儀器
8．4 測(cè)試樣品要求
8．5 有機(jī)元素分析儀結(jié)果分析
8．6 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第9章 總有機(jī)碳分析儀
9．1 總有機(jī)碳分析儀測(cè)試原理及應(yīng)用
9．2 樣品
9．3 結(jié)果解析
9．4 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第三篇 結(jié)構(gòu)分析
第10章 多晶X射線衍射
10．1 原理及應(yīng)用
10．2 常見(jiàn)儀器
10．3 測(cè)試樣品要求
10．4 不同XRD測(cè)試模式及參數(shù)解讀
10．5 數(shù)據(jù)解析
10．6 案例分享
10．7 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第11章 紅外光譜儀
11．1 紅外原理及應(yīng)用
11．2 常見(jiàn)紅外光譜儀器
11．3 測(cè)試樣品
11．4 測(cè)試項(xiàng)目及參數(shù)解讀
11．5 數(shù)據(jù)解析和數(shù)據(jù)處理
11．6 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第12章 紫外可見(jiàn)吸收光譜
12．1 紫外原理及應(yīng)用
12．2 測(cè)試模式、基本術(shù)語(yǔ)
12．3 數(shù)據(jù)解析
12．4 案例分享及紫外-可見(jiàn)吸收光譜影響因素
第13章 拉曼光譜
13．1 原理及應(yīng)用
13．2 常見(jiàn)儀器型號(hào)
13．3 測(cè)試樣品
13．4 測(cè)試項(xiàng)目及參數(shù)解讀
13．5 分析軟件安裝及使用
13．6 譜圖解讀
13．7 案例分享及問(wèn)題解答
13．8 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第14章 核磁共振波譜
14．1 核磁共振波譜分類
14．2 核磁共振波譜原理
14．3 應(yīng)用范圍
14．4 核磁共振波譜儀器簡(jiǎn)介
14．5 核磁測(cè)試要求和制樣要求
14．6 核磁共振波譜數(shù)據(jù)處理與分析
14．7 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第15章 壓汞法
15．1 壓汞法的創(chuàng)建、發(fā)展
15．2 壓汞法分類
15．3 壓汞法測(cè)量原理
15．4 高壓壓汞儀
15．5 測(cè)試樣品
15．6 數(shù)據(jù)解析與應(yīng)用
15．7 孔隙結(jié)構(gòu)分析
15．8 壓汞法測(cè)量的誤差來(lái)源及分析
第16章 比表面積與孔隙度分析儀
16．1 原理及應(yīng)用
16．2 常見(jiàn)儀器
16．3 應(yīng)用領(lǐng)域
16．4 測(cè)試樣品
16．5 測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試條件的確定
16．6 數(shù)據(jù)解析
16．7 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第17章 凝膠滲透色譜分析技術(shù)
17．1 原理及應(yīng)用
17．2 GPC測(cè)試
17．3 測(cè)試參數(shù)與數(shù)據(jù)解析
17．4 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第18章 電子順磁共振波譜儀
18．1 基本原理
18．2 應(yīng)用范圍
18．3 常見(jiàn)儀器
18．4 測(cè)試樣品
18．5 數(shù)據(jù)解析
18．6 案例分享及問(wèn)題解答
18．7 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第四篇 性能分析
第19章 熒光性能
19．1 原理及概念
19．2 模塊化的愛(ài)丁堡設(shè)備
19．3 集成化的濱松設(shè)備
19．4 測(cè)試項(xiàng)目及數(shù)據(jù)展示
19．5 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第20章 磁滯回線
20．1 材料的磁性
20．2 測(cè)試要求
20．3 磁滯回線
20．4 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第21章 程序升溫技術(shù)
21．1 概述及原理
21．2 測(cè)試儀器
21．3 樣品要求
21．4 測(cè)試項(xiàng)目及參數(shù)解讀
21．5 程序升溫技術(shù)在催化研究中的應(yīng)用
21．6 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第22章 接觸角測(cè)試
22．1 原理及應(yīng)用
22．2 常用測(cè)量方法
22．3 樣品制備和要求
22．4 測(cè)試項(xiàng)目及參數(shù)解讀
22．5 數(shù)據(jù)分析及常用工具
22．6 常見(jiàn)問(wèn)題解答
第23章 納米／激光粒度儀
23．1 儀器原理
23．2 測(cè)試項(xiàng)目
23．3 測(cè)試樣品要求
23．4 結(jié)果解讀
23．5 常見(jiàn)問(wèn)題解答
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