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高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設(shè)計(jì)

高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設(shè)計(jì)

定  價(jià):169 元

叢書(shū)名:裝備科技譯著出版基金

        

  • 作者:[美] 林圣圭 著,楊銀堂,高海霞,吳曉鵬,董剛 譯
  • 出版時(shí)間:2017/12/1
  • ISBN:9787118113464
  • 出 版 社:國(guó)防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN402 
  • 頁(yè)碼:520
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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  《高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設(shè)計(jì)》系統(tǒng)地介紹了三維集成電路設(shè)計(jì)所涉及的一些問(wèn)題,包括物理設(shè)計(jì)自動(dòng)化、結(jié)構(gòu)、建模、探索、驗(yàn)證等,分成五部分,共20章。第一部分為三維集成電路設(shè)計(jì)方法及解決方案,主要討論硅通孔布局、斯坦納布線、緩沖器插入、時(shí)鐘樹(shù)、電源分配網(wǎng)絡(luò);第二部分為三維集成電路的電可靠性設(shè)計(jì),主要討論硅通孔-硅通孔耦合、電流聚集效應(yīng)、電源完整性、電遷移失效機(jī)制;第三部分為三維集成電路的熱可靠性設(shè)計(jì),主要討論熱驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)布局、門(mén)級(jí)布局、微流通道散熱問(wèn)題;第四部分為三維集成電路的機(jī)械可靠性設(shè)計(jì),主要分析全芯片和封裝級(jí)機(jī)械應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力對(duì)時(shí)序的影響、硅通子L界面裂紋;第五部分為三維集成電路設(shè)計(jì)的其他方面,主要討論利用單片三維集成實(shí)現(xiàn)超高密度邏輯的方法、硅通孔按比例縮小問(wèn)題,并給出一個(gè)三維大規(guī)模并行處理器設(shè)計(jì)實(shí)例。
  《高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設(shè)計(jì)》可作為高等院校微電子技術(shù)、電路與系統(tǒng)等專業(yè)高年級(jí)本科生和研究生的教材或參考書(shū),也可作為從事三維集成電路設(shè)計(jì)的相關(guān)技術(shù)人員的參考資料。
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