目錄


前言


上篇基礎(chǔ)理論篇


第1章緒論


第2章光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)


21輻射度量和光度量


211光的基本概念


212輻射度量


213光度量


22半導(dǎo)體物理基礎(chǔ)


221半導(dǎo)體的特性


222能帶理論


223半導(dǎo)體的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)


224載流子的運(yùn)動(dòng)


225半導(dǎo)體的PN結(jié)


226半導(dǎo)體對(duì)光的吸收


23光電效應(yīng)


231光電導(dǎo)效應(yīng)


232光生伏特效應(yīng)


233外光電效應(yīng)


24光電器件的基本參數(shù)


241有關(guān)響應(yīng)方面的特性參數(shù)


242有關(guān)噪聲方面的特性參數(shù)


243其他參數(shù)


思考題與習(xí)題


第3章光電檢測(cè)器件


31光電導(dǎo)器件


311光敏電阻的原理與結(jié)構(gòu)


312典型光敏電阻


313光敏電阻的基本特性


32光生伏特器件


321光敏二極管


322硅光電池


323光敏晶體管


324色敏光生伏特器件


325光生伏特器件組合件


326光電位置敏感器件


33光電發(fā)射器件


331光電倍增管


332真空光電管


34熱輻射探測(cè)器件


341熱敏電阻


342熱電偶探測(cè)器


343熱電堆探測(cè)器


35熱釋電器件


351熱釋電器件的基本工作原理


352熱釋電器件的電壓靈敏度


353熱釋電器件的噪聲、響應(yīng)時(shí)間


與阻抗特性


354快速熱釋電探測(cè)器


36光耦合器件


361光耦合器件的結(jié)構(gòu)與電路符號(hào)


362光耦合器件的特性參數(shù)


363光耦合器件的應(yīng)用


37圖像傳感器


371圖像傳感器的分類(lèi)


372真空攝像管


373電荷耦合器件


374CMOS圖像傳感器


375紅外熱成像


376圖像的增強(qiáng)與變像


思考題與習(xí)題


第4章半導(dǎo)體發(fā)光管與激光器


41發(fā)光二極管


411發(fā)光二極管的發(fā)光機(jī)理


412發(fā)光二極管的應(yīng)用


42半導(dǎo)體激光器


421半導(dǎo)體激光器的發(fā)光原理


422半導(dǎo)體激光器的結(jié)構(gòu)


43幾種典型的激光器


431氣體激光器


432固體激光器


433染料激光器


434光纖激光器


思考題與習(xí)題


第5章輻射信號(hào)檢測(cè)


51直接探測(cè)法


511光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)


512調(diào)制盤(pán)


513調(diào)制盤(pán)對(duì)背景信號(hào)的空間濾波


52光外差探測(cè)法


521光外差探測(cè)原理


522光外差探測(cè)的特性


53幾何光學(xué)方法的光電信息變換


531長(zhǎng)、寬尺寸信息的光電變換


532位移信息的光電變換


533速度信息的光電變換


54空間分布光信號(hào)的檢測(cè)方法


541光學(xué)目標(biāo)和空間定位


542幾何中心檢測(cè)法


543亮度中心檢測(cè)法


55莫爾條紋


思考題與習(xí)題


第6章光電檢測(cè)系統(tǒng)典型電路


61光敏電阻的變換電路


611基本偏置電路


612恒流電路


613恒壓電路


62光生伏特器件的偏置電路


621反向偏置電路


622無(wú)偏置電路


63CCD器件驅(qū)動(dòng)電路


631CCD驅(qū)動(dòng)電路時(shí)序方法


632可編程器件產(chǎn)生CCD


驅(qū)動(dòng)時(shí)序


64視頻信號(hào)二值化處理電路


641閾值法


642微分法


65光電信號(hào)辨向處理與細(xì)分電路


651光電信號(hào)辨向處理


652電子細(xì)分


思考題與習(xí)題


下篇 技術(shù)應(yīng)用篇第7章微弱光信號(hào)檢測(cè)


71基本概念


711能量信號(hào)與功率信號(hào)


712相關(guān)函數(shù)


713相關(guān)接收


714相敏檢波器


72鎖相放大器


721鎖相放大器的工作原理


722鎖相放大器的應(yīng)用及特點(diǎn)


73取樣積分器


731取樣積分原理和工作方式


732取樣積分器應(yīng)用和特點(diǎn)


74光子計(jì)數(shù)器


741光子計(jì)數(shù)器原理


742光子計(jì)數(shù)器的應(yīng)用及特點(diǎn)


思考題與習(xí)題


第8章外形尺寸檢測(cè)


81概述


82模擬變換檢測(cè)法


83光電掃描檢測(cè)法


831光學(xué)掃描法


832電掃描法


84CCD自掃描檢測(cè)法


85光電三維形貌檢測(cè)法


851雙目機(jī)器視覺(jué)三維形貌檢測(cè)法


852結(jié)構(gòu)光三維形貌檢測(cè)法


思考題與習(xí)題


第9章位移量檢測(cè)


91激光干涉位移檢測(cè)