定 價：36 元
叢書名：21世紀(jì)全國高等院校材料類創(chuàng)新型應(yīng)用人才培養(yǎng)規(guī)劃教材
- 作者：郭立偉，朱艷，戴鴻濱 著
- 出版時間：2014/2/1
- ISBN：9787301234990
- 出 版 社：北京大學(xué)出版社
- 中圖法分類：TB3
- 頁碼：275
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開本：16開
本書著重介紹了材料現(xiàn)代分析測試方法的基本原理、試驗方法、儀器設(shè)備及其應(yīng)用。內(nèi)容包括：X射線衍射分析原理、X射線多晶衍射方法及應(yīng)用、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析與電子探針。此外，還對一些較新的其他顯微分析方法的原理和應(yīng)用進(jìn)行了簡要介紹。
本書主要講述了三部分內(nèi)容，即X射線衍射分析、電子顯微分析和其他常用的近代物理檢測分析。對材料的表面形貌、組織、結(jié)構(gòu)、成分、相轉(zhuǎn)變及其能量變化等進(jìn)行了各種分析。將以簡練易懂的方式引入測試原理，并重于讓學(xué)生掌握分析實驗結(jié)果的能力，從而探討材料的強(qiáng)化機(jī)理和失效原因，為發(fā)揮材料性能的潛力和開發(fā)研制新材料奠定了理論基礎(chǔ)。
郭立偉，哈爾濱理工大學(xué)材料學(xué)院副教授，系副主任
第1章 X射線的性質(zhì)
1.1 X射線的本質(zhì)
1.2 X射線的產(chǎn)生
1.3 X射線譜
1.4 X射線與物質(zhì)的相互作用
1.6 X射線的防護(hù)
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第2章 晶體學(xué)基礎(chǔ)
2.1 晶體結(jié)構(gòu)與空間點陣
2.2 晶向與晶面
2.3 晶面間距和晶面夾角
2.4 晶帶及晶帶定理
2.5 倒易點陣 第1章 X射線的性質(zhì)
1.1 X射線的本質(zhì)
1.2 X射線的產(chǎn)生
1.3 X射線譜
1.4 X射線與物質(zhì)的相互作用
1.6 X射線的防護(hù)
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第2章 晶體學(xué)基礎(chǔ)
2.1 晶體結(jié)構(gòu)與空間點陣
2.2 晶向與晶面
2.3 晶面間距和晶面夾角
2.4 晶帶及晶帶定理
2.5 倒易點陣
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第3章 X射線的衍射方向
3.1 勞厄方程
3.2 布拉格方程
3.3 埃瓦爾德圖解和應(yīng)用舉例
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第4章 X射線的衍射強(qiáng)度
4.1 一個電子和一個原子對X射線的散射
4.2 一個晶胞對X射線的散射
4.3 一個小晶體對X射線的衍射及其積分強(qiáng)度
4.4 粉末多晶體衍射的積分強(qiáng)度
4.5 多晶體衍射的積分強(qiáng)度公式
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第5章 多晶體分析方法
5.1 粉末照相法
5.2 X射線衍射儀
5.3 其他多晶體照相法
5.4 點陣參數(shù)的精確測量
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第6章 物相分析
6.1 定性分析
6.2 定量分析
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第7章 宏觀應(yīng)力測試
7.1 宏觀殘余應(yīng)力
7.2 宏觀應(yīng)力測量的基本原理
7.3 宏觀應(yīng)力測試方法
7.4 宏觀應(yīng)力測定的影響因素
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第8章 電子光學(xué)基礎(chǔ)
8.1 電子波與電磁透鏡
8.2 電磁透鏡的像差與分辨本領(lǐng)
8.3 電磁透鏡的景深和焦長
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第9章 透射電子顯微鏡
9.1 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)
9.2 投射電子顯微鏡主要性能指標(biāo)
9.3 投射電子顯微鏡樣品制備技術(shù)
9.4 投射電子顯微鏡中的電子衍射
9.5 投射電子顯微鏡
9.6 衍射襯度的運(yùn)動學(xué)理論
9.7 晶體缺陷分析
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第10章 掃描電子顯微鏡
10.1 電子束與固體樣品的相互作用
10.2 掃描電鏡的成像原理及特點
10.3 掃描電鏡構(gòu)造及性能
10.4 掃描電鏡的電子圖像及襯度
10.5 掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第11章 電子探針
11.1 電子探針的結(jié)構(gòu)
11.2 波譜儀
11.3 能譜儀
11.4 電子探針分析方法和應(yīng)用
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
第12章 其他近代材料測試方法
12.1 離子探針
12.2 低能電子衍射
12.3 俄歇電子能譜儀
12.4 場離子顯微鏡與原子力顯微鏡
12.5 X射線光電子能譜儀
小結(jié)
關(guān)鍵術(shù)語
習(xí)題
附錄
參考文獻(xiàn)
書單推薦
