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光學(xué)檢驗(yàn)與測(cè)試

光學(xué)檢驗(yàn)與測(cè)試

定  價(jià):188 元

        

  • 作者:[以色列]邁克爾·豪斯納(Michael Hausner) 王小勇
  • 出版時(shí)間:2023/2/16
  • ISBN:9787118128833
  • 出 版 社:國(guó)防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O435 
  • 頁(yè)碼:400
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本書(shū)的重點(diǎn)內(nèi)容有:從幾何光學(xué)和物理光學(xué)出發(fā),引出光像差理論,提出光學(xué)材料定義,光學(xué)材料種類以及制造方法和主要特性;介紹了各類光學(xué)材料制造過(guò)程:提出光學(xué)元件加工、光學(xué)元件鍍膜、光學(xué)粘合劑等光學(xué)元件制造、裝配技術(shù)等。 (1)
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