"隨著各種高新技術(shù)的應(yīng)用，雷達(dá)呈現(xiàn)復(fù)雜化、精密化和自動(dòng)化的發(fā)展趨勢，對其測試性和維修性也提出了更高的要求。在提高雷達(dá)測試性和維修性的眾多措施中，機(jī)內(nèi)測試（Built-in Test，BIT）技術(shù)是近年來最成功、最有效的技術(shù)手段，是復(fù)雜電子裝備整體設(shè)計(jì)、分系統(tǒng)設(shè)計(jì)、狀態(tài)監(jiān)測、故障診斷、維修決策等方面的關(guān)鍵共性技術(shù)。在當(dāng)前雷達(dá)BIT技術(shù)中，存在狀態(tài)監(jiān)測點(diǎn)設(shè)置不合理、監(jiān)測深度不夠、虛警率高等問題，一直阻礙著雷達(dá)BIT效能的充分發(fā)揮和更廣泛、更深入的應(yīng)用。為解決常規(guī)BIT中存在的各種問題，本書將智能BIT技術(shù)應(yīng)用在狀態(tài)監(jiān)測與虛警抑制方面，重點(diǎn)介紹雷達(dá)智能BIT技術(shù)、雷達(dá)狀態(tài)監(jiān)測點(diǎn)的優(yōu)化與診斷策略設(shè)計(jì)方法、雷達(dá)智能BIT整機(jī)性能監(jiān)測方法、雷達(dá)BIT虛警分析及虛警抑制技術(shù)等內(nèi)容。
本書由長期從事雷達(dá)信號(hào)處理領(lǐng)域的研究人員編寫，總結(jié)凝練了最新科學(xué)研究成果。本書的出版，可為該領(lǐng)域的一線科研人員、相關(guān)領(lǐng)域的研究者和高校的人才培養(yǎng)提供智力支持，為雷達(dá)成像尤其是雙基地ISAR提供理論和技術(shù)支撐。"