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內(nèi)耗與力學(xué)譜基本原理及其應(yīng)用
本書共分兩編,第一編介紹了內(nèi)耗與力學(xué)譜的基本原理,包括晶體缺陷的基礎(chǔ)知識(shí)、內(nèi)耗的唯象理論、測(cè)量原理和技術(shù),以及產(chǎn)生內(nèi)耗的幾種主要微觀機(jī)制。第二編給出內(nèi)耗技術(shù)在凝聚態(tài)物理和材料科學(xué)研究方面的應(yīng)用,以及內(nèi)耗技術(shù)如何解決生產(chǎn)中的實(shí)際問(wèn)題。
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