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太赫茲光電測(cè)試技術(shù)

太赫茲光電測(cè)試技術(shù)

定  價(jià):278 元

        

  • 作者:曹俊誠(chéng) 著
  • 出版時(shí)間:2020/11/1
  • ISBN:9787562861027
  • 出 版 社:華東理工大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:O441.4 
  • 頁(yè)碼:272
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16
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本書(shū)主要從太赫茲輻射源、探測(cè)器及相關(guān)測(cè)試技術(shù)出發(fā),介紹了太赫茲頻段輻射源、探測(cè)器及探測(cè)技術(shù)的基本概念和特點(diǎn),闡述了太赫茲光電測(cè)試技術(shù)中所涉及的基本理論、測(cè)試原理與方法、測(cè)試系統(tǒng)組成和主要技術(shù)特點(diǎn),以及太赫茲光電測(cè)試技術(shù)在光電器件標(biāo)定、光路校準(zhǔn)、成像系統(tǒng)與信號(hào)傳輸系統(tǒng)中的應(yīng)用。 希望通過(guò)對(duì)太赫茲頻段光電測(cè)試技術(shù)的歸納和總結(jié),促進(jìn)太赫茲技術(shù)在物理學(xué)、材料學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、公共安全和信息技術(shù)等領(lǐng)域的應(yīng)用與發(fā)展。
本書(shū)可作為太赫茲領(lǐng)域科研人員和相關(guān)學(xué)科研究生的參考書(shū)和工具書(shū),亦可供有關(guān)工程技術(shù)人員參考。
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