1 緒論

1．1 研究背景

1．2 研究目的和意義

1．3 本書的研究內容

1．4 本書的研究思路

1．5 本書的研究方法

2 文獻綜述

2．1 田口方法的發(fā)展概況及其研究現(xiàn)狀

2．1．1 田口的質量觀

2．1．2 田口的三次設計法

2．1．3 田口方法的研究現(xiàn)狀

2．1．4 小結

2．2 質量損失函數(shù)的發(fā)展概況及其研究現(xiàn)狀

2．2．1 質量損失的不同理解

2．2．2 質量損失函數(shù)的改進研究

2．2．3 質量損失函數(shù)的應用現(xiàn)狀

2．2．4 小結

2．3 質量反饋控制系統(tǒng)的發(fā)展概況及其研究現(xiàn)狀

2．4 質量測量系統(tǒng)的發(fā)展概況及其研究現(xiàn)狀

3 質量損失函數(shù)理論綜述

3．1 質量損失函數(shù)的經(jīng)典模型

3．1．1 望目特性的質量損失函數(shù)

3．1．2 望小特性的質量損失函數(shù)

3．1．3 望大特性的質量損失函數(shù)

3．2 質量水平評價方法的比較研究

3．2．1 質量水平評價實踐中的問題

3．2．2 不同質量水平評價方法的差異

3．2．3 比較與結論

3．3 本章小結

4 質量損失函數(shù)的改進及應用

4．1 望小特性質量損失函數(shù)的改進

4．1．1 望小特性質量損失函數(shù)存在的問題

4．1．2 望小特性質量損失函數(shù)的改進

4．1．3 實際問題

4．2 望大特性質量損失函數(shù)的改進

4．2．1 望大特性質量損失函數(shù)存在的問題

4．2．2 望大特性質量損失函數(shù)的改進

4．2．3 實際問題

4．3 動態(tài)特性的質量損失函數(shù)研究

4．3．1 動態(tài)特性的概念

4．3．2 單個質量特性的質量損失函數(shù)

4．3．3 實際問題

4．3．4 多個質量特性的質量損失函數(shù)

4．3．5 實際問題

4．4 產(chǎn)品分等級情形的質量損失函數(shù)設計

4．4．1 望目特性的情形

4．4．2 望小特性的情形

4．4．3 望大特性的情形

4．4．4 百分比質量特性的情形

4．5 本章小結

5 反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)的改進

5．1 生產(chǎn)工序的故障類型和質量問題

5．1．1 生產(chǎn)工序的故障類型

5．1．2 生產(chǎn)工序的質量問題

5．2 反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)介紹

5．2．1 產(chǎn)品質量特性反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)

5．2．2 工序條件反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)

5．3 反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)的改進

5．3．1 反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)存在的問題

5．3．2 反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)的改進

5．4 反饋控制系統(tǒng)損失函數(shù)改進后的效果分析

5．4．1 實際問題

5．4．2 應用改進前損失函數(shù)進行優(yōu)化設計

5．4．3 應用改進后損失函數(shù)進行優(yōu)化設計

5．4．4 改進前后比較分析

5．5 本章小結

6 測量系統(tǒng)質量損失函數(shù)的優(yōu)化

6．1 傳統(tǒng)測量系統(tǒng)測量誤差評價

6．1．1 傳統(tǒng)測量誤差研究對象

6．1．2 傳統(tǒng)測量誤差分析方法

6．2 測量系統(tǒng)誤差損失函數(shù)

6．2．1 靜態(tài)測量誤差損失函數(shù)

6．2．2 動態(tài)測量誤差損失函數(shù)設計

6．2．3 已知信號因子時動態(tài)測量誤差損失函數(shù)

6．2．4 未知信號因子時動態(tài)測量誤差損失函數(shù)

6．3 測量系統(tǒng)校準損失函數(shù)的改進

6．3．1 傳統(tǒng)測量系統(tǒng)校準方法

6．3．2 測量系統(tǒng)校準損失函數(shù)

6．3．3 校準系統(tǒng)損失函數(shù)的改進

6．3．4 實際問題

6．4 本章小結

7 結論與展望

7．1 本書的結論

7．2 本書的創(chuàng)新之處

7．3 研究不足及展望

參考文獻

后記