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公差配合與測量技術

公差配合與測量技術

定  價:42.8 元

        

  • 作者:楊光龍
  • 出版時間:2020/3/1
  • ISBN:9787121267444
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:268
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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讀者對象:本書可作為高等職業(yè)院校機械類和近機類各專業(yè)的教學用書,也可作為從事機械設計與制造、標準化、計量測試等工程技術人員的參考用書。

本書系統(tǒng)地介紹了公差配合與測量技術方面的基礎知識,全書共分七個項目,并以任務形式進行講解,形式新穎,通俗易懂,實用性強。內容主要包括:前言,極限配合與測量技術入門;測量零件線性尺寸;形狀及位置公差及其檢測;表面粗糙度及檢測;測量角度、錐度;典型零件的測量;零件精密測量。 本書采用最新國家標準內容,側重于基本概念的講解和常用測量方法和測量工具的運用,內容簡明扼要,通俗易懂。在編排上,本書注重理論與實踐相結合,采用項目式教學,通過實踐任務環(huán)節(jié)引出學習內容,利用實例、圖表進行講解。每個項目分為若干任務,全書共設置24個任務,每個任務由任務呈現(xiàn)、任務分析、知識鏈接、任務實施等組成,正文中還設置了任務拓展等特色模塊,意在提高學生的學習興趣。
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