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貧困指標(biāo)測度的研究范式與機(jī)理分析

貧困指標(biāo)測度的研究范式與機(jī)理分析

定  價:89 元

        

  • 作者:張會敏 劉超 劉秉龍
  • 出版時間:2019/9/1
  • ISBN:9787520152020
  • 出 版 社:社會科學(xué)文獻(xiàn)出版社
  • 中圖法分類:F113.9 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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基于嵌套誤差模型,本書運(yùn)用經(jīng)驗貝葉斯方法估計非線性小域總體參數(shù)貧困指標(biāo),特別是非線性參數(shù)。嵌套誤差線性回歸模型是一個特殊的超總體模型,它可以用來估計經(jīng)驗貝葉斯預(yù)測值。本書把這種方法應(yīng)用于中國精準(zhǔn)扶貧背景下貧困指標(biāo)的隨機(jī)模擬分析。借助模擬分析方法,貧困指標(biāo)經(jīng)驗*預(yù)測值在有偏性和均方誤差方面表現(xiàn)良好。模擬實驗的結(jié)果表明:所提出的經(jīng)驗*估計量的變異系數(shù)對于幾乎所有領(lǐng)域的直接估計值顯著降低;EB方案的估測要優(yōu)于直接估值和ELL方案估值;自舉程序生成的貧困測量值采用自舉重復(fù)的方法來求均值,ELL方案會獲得一個比直接估值更低的效率。

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