關(guān)于我們
書單推薦
新書推薦

正倒向隨機(jī)微分方程最優(yōu)控制(英文版)

正倒向隨機(jī)微分方程最優(yōu)控制(英文版)

定  價(jià):98 元

        

  • 作者:張良泉[著]
  • 出版時(shí)間:2019/6/1
  • ISBN:9787030612991
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:O211 
  • 頁碼:216
  • 紙張:
  • 版次:31
  • 開本:B5
9
7
6
8
1
7
2
0
9
3
9
0
1

讀者對(duì)象:本書適用于隨機(jī)微分方程研究人員

內(nèi)容涉及正倒向隨機(jī)微分方程最優(yōu)/次優(yōu)控制系統(tǒng)研究,分兩部分:第一,動(dòng)態(tài)規(guī)劃原理,我們推導(dǎo)出Hamilton-Jacobi-BellmanInequality,此項(xiàng)研究是深入菲爾茨獎(jiǎng)得主,法國(guó)數(shù)學(xué)家P.-L.Lions教授提出的用粘性解理論研究導(dǎo)數(shù)有約束的偏微分方程的問題。同時(shí)給出在粘性解意義下,隨機(jī)遞歸系統(tǒng)的最優(yōu)控制驗(yàn)證定理,通過該定理可以給出最優(yōu)反饋控制。第二部分:Pontryagin最大值原理.我們先給出控制區(qū)域非凸,擴(kuò)散項(xiàng)不含控制的正倒向完全耦合

更多科學(xué)出版社服務(wù),請(qǐng)掃碼獲取。
 你還可能感興趣
 我要評(píng)論
您的姓名   驗(yàn)證碼: 圖片看不清?點(diǎn)擊重新得到驗(yàn)證碼
留言內(nèi)容