第1章 可靠性數(shù)學(xué)基礎(chǔ)
1.1 產(chǎn)品可靠性與隨機(jī)事件概述
1.2 事件、集合與集合代數(shù)
1.3 可靠度計(jì)算的概率基礎(chǔ)
1.4 隨機(jī)變量的概率分布
第2章 可靠性基本概念與表示
2.1 可靠性概述
2.2 可靠性度量與表示
2.3 可靠性壽命特性
2.4 可靠度R（t）、故障概率F（t）、故障概率密度f（t）與失效率λ（t）之間的變換關(guān)系
第3章 可靠性試驗(yàn)與可靠性增長
3.1 可靠性試驗(yàn)的分類與意義
3.2 衛(wèi)星產(chǎn)品可靠性的特點(diǎn)
3.3 衛(wèi)星環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的關(guān)系
3.4 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)
3.5 可靠性增長試驗(yàn)
3.6 可靠性鑒定試驗(yàn)
3.7 可靠性篩選試驗(yàn)
第4章 系統(tǒng)可靠性模型與分布
4.1 系統(tǒng)可靠性框圖及其特點(diǎn)
4.2 典型串關(guān)聯(lián)系統(tǒng)的可靠性模型
4.3 一般系統(tǒng)可靠性分析
4.4 表決系統(tǒng)
4.5 旁聯(lián)系統(tǒng)（貯備系統(tǒng)）
第5章 故障模式與故障樹分析
5.1 概述
5.5 故障模式分析
5.6 失效嚴(yán)重度分析
5.4 故障樹的建造
5.5 故障樹的數(shù)學(xué)描述
5.6 故障樹的定性分析
5.7 故障樹定量分析與計(jì)算
5.8 單元重要度及其在設(shè)計(jì)中的應(yīng)用
第6章 可靠性設(shè)計(jì)
6.1 系統(tǒng)可靠性預(yù)測
6.2 系統(tǒng)可靠度分配
6.3 電子元器件的篩選與老煉
6.4 電子元器件的降額使用
6.5 電路與系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)
6.6 耐環(huán)境設(shè)計(jì)
6.7 耐熱設(shè)計(jì)
6.8 潛在通路分析
6.9 冗余技術(shù)（貯備系統(tǒng)）與容錯(cuò)設(shè)計(jì)
6.10 機(jī)械結(jié)構(gòu)可靠性設(shè)計(jì)概述
6.11 結(jié)構(gòu)可靠性分析與計(jì)算
6.12 結(jié)構(gòu)可靠性設(shè)計(jì)
第7章 可靠性評估
7.1 二項(xiàng)分布的可靠性估計(jì)
7.2 指數(shù)分布的可靠性估計(jì)
7.3 正態(tài)分布型參數(shù)可靠性估計(jì)
7.4 威布爾分布的可靠性估計(jì)
7.5 金字塔式可靠綜合評定
第8章 軟件可靠性
8.1 引言
8.2 軟件可靠性的基本概念
8.3 軟件可靠性的基本特征量
8.4 軟件可靠性的模型
附表1 正態(tài)分布分位數(shù)表
附表2 X2分布表
附表3 二項(xiàng)分布可靠性單側(cè)上限表
附表4 二項(xiàng)分布可靠性單側(cè)下限表
附表5 t分布表
附表6 F分布表
附表7 正態(tài)分布單側(cè)統(tǒng)計(jì)允限系數(shù)表
附表8 正態(tài)分布雙側(cè)統(tǒng)計(jì)允限系數(shù)表
參考文獻(xiàn)