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公差配合與測量技術(shù)

公差配合與測量技術(shù)

定  價:33 元

        

  • 作者:張立輝主編
  • 出版時間:2017/1/1
  • ISBN:9787121305672
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:228頁
  • 紙張:膠紙版
  • 版次:1
  • 開本:16K
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本書本著“理論夠用,應用為主”的思想,大膽舍棄實用性較弱的內(nèi)容,重點加強關(guān)于精度設計的識圖及精度檢測技能訓練的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括6個項目:互換性、極限與配合、測量技術(shù)、幾何公差、表面粗糙度、普通螺紋公差及檢測,由13個任務驅(qū)動。為了加強可操作性和培養(yǎng)學生的動手能力,項目下設技能訓練,其中理論部分設12套練習題,實踐部分設7個項目任務書。本書可作為高職高專院校機械類、控制類、機電及自動化類專業(yè)的教學用書,以及應用型本科、成人教育、自學考試、開放大學、中職學校和培訓班的教材,還可作為機械工程技術(shù)人員的參考工具書。
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