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互換性與技術測量 第2版

互換性與技術測量 第2版

定  價:43 元

叢書名: 普通高等教育“十一五”國家級規(guī)劃教材

        

  • 作者:韓進宏 主編遲彥孝 崔煥勇 譚俊哲 副主編
  • 出版時間:2017/7/5
  • ISBN:9787111557296
  • 出 版 社:機械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:274
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:2
  • 開本:16K
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本書是在總結(jié)多年教學實踐經(jīng)驗的基礎上,由2004年出版的第1版修訂而成。全書共分12章,包括:緒論,幾何量測量技術基礎,孔、軸的極限與配合,幾何公差與幾何誤差檢測,表面粗糙度與檢測,光滑工件尺寸檢驗和光滑極限量規(guī)設計,滾動軸承的公差與配合,圓錐的公差與配合、鍵和花鍵的公差與檢測,螺紋公差,圓柱齒輪公差與檢測,實驗指導書。本書突出對公差帶特點的分析與應用,對難點問題分析透徹。前11章每章后均有思考題和習題,并有講課、解題所需的公差表格,以方便教學與讀者自學。本書可作為高等工科院校機械類、儀器儀表類專業(yè)“互換性與技術測量”課程的教材,也可供從事機械與儀器儀表設計、制造工藝、標準化、計量測試等工作的工程技術人員參考。
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