目 錄第1章 概述11.1 低速設(shè)計(jì)和高速設(shè)計(jì)的例子1【案例1-1】 簡化的存儲(chǔ)電路模塊11.1.1 低速設(shè)計(jì)11.1.2 高速設(shè)計(jì)21.2 如何區(qū)分高速和低速31.3 硬件設(shè)計(jì)流程51.3.1 需求分析61.3.2 概要設(shè)計(jì)71.3.3 詳細(xì)設(shè)計(jì)71.3.4 調(diào)試91.3.5 測試91.3.6 轉(zhuǎn)產(chǎn)101.4 原理圖設(shè)計(jì)11第2章 高速電路中的電阻、電容、電感和磁珠的選型及應(yīng)用132.1 電阻的應(yīng)用132.1.1 與電阻相關(guān)的經(jīng)典案例13【案例2-1】 串聯(lián)電阻過大，導(dǎo)致板間告警失敗13【案例2-2】 電阻額定功率不夠造成的單板潛在缺陷14【案例2-3】 電阻在時(shí)序設(shè)計(jì)中的妙用152.1.2 電阻應(yīng)用要點(diǎn)162.2 電容的選型及應(yīng)用172.2.1 與電容相關(guān)的經(jīng)典案例17【案例2-4】 電容失效導(dǎo)致低溫下硬盤停止工作17【案例2-5】 多次帶電插拔子板導(dǎo)致母板上鉭電容損壞18【案例2-6】 高速電路中電容應(yīng)用問題導(dǎo)致CPU工作不穩(wěn)定182.2.2 高速電路設(shè)計(jì)中電容的作用及分析19【案例2-7】 交流耦合電容選擇不當(dāng)引起數(shù)據(jù)幀出錯(cuò)20【案例2-8】 利用0612封裝的電容增強(qiáng)濾波性能21【案例2-9】 LDO電源應(yīng)用中的濾波電容ESR問題22【案例2-10】 高頻電路中1?F +0.01?F是否能展寬低阻抗頻帶242.2.3 高速電路設(shè)計(jì)常用電容及其應(yīng)用要點(diǎn)26【案例2-11】 陶瓷電容選型錯(cuò)誤導(dǎo)致單板丟數(shù)據(jù)包27【案例2-12】 根據(jù)電路要求進(jìn)行鉭電容選型292.2.4 去耦電容和旁路電容312.3 電感的選型及應(yīng)用322.3.1 與電感相關(guān)的經(jīng)典案例32【案例2-13】 LC低通濾波導(dǎo)致輸出電源電壓紋波偏大32【案例2-14】 大電流通路PI型濾波造成電壓衰減332.3.2 高速電路設(shè)計(jì)中電感的作用352.3.3 高速電路設(shè)計(jì)常用電感及其應(yīng)用要點(diǎn)362.4 磁珠的選型及應(yīng)用392.4.1 磁珠的濾波機(jī)理392.4.2 高速電路設(shè)計(jì)中磁珠的選型及其應(yīng)用要點(diǎn)40【案例2-15】 誤用磁珠造成過流保護(hù)電路失效412.4.3 磁珠和電感的比較42第3章 高速電路中的邏輯器件選型及高速邏輯電平應(yīng)用443.1 與邏輯器件相關(guān)的經(jīng)典案例44【案例3-1】 邏輯器件輸入端上拉太弱造成帶電插拔監(jiān)測功能失效443.2 邏輯器件應(yīng)用要點(diǎn)473.2.1 邏輯器件概要47【案例3-2】 邏輯器件驅(qū)動(dòng)能力過強(qiáng)造成信號(hào)振鈴51【案例3-3】 同一型號(hào)邏輯器件的差異性造成PHY配置錯(cuò)誤513.2.2 邏輯器件參數(shù)介紹523.2.3 邏輯器件功耗計(jì)算603.2.4 邏輯器件熱插拔功能介紹623.2.5 邏輯器件使用中注意事項(xiàng)的總結(jié)683.3 高速邏輯電平應(yīng)用683.3.1 高速邏輯電平概述68【案例3-4】 差分對(duì)走線附近信號(hào)分布不均衡造成電磁輻射703.3.2 LVDS邏輯電平介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)71【案例3-5】 空閑輸入引腳處理有誤導(dǎo)致FPGA檢測到錯(cuò)誤輸入733.3.3 LVPECL邏輯電平介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)753.3.4 CML邏輯電平介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)773.3.5 高速邏輯電平的比較783.3.6 高速邏輯電平的互連及其應(yīng)用要點(diǎn)78第4章 高速電路中的電源設(shè)計(jì)874.1 與電源相關(guān)的經(jīng)典案例87【案例4-1】 LDO輸出電源電平低于設(shè)置值87【案例4-2】 電源芯片欠壓保護(hù)電路導(dǎo)致上電時(shí)序不滿足設(shè)計(jì)的要求88【案例4-3】 多電源模塊并聯(lián)工作時(shí)的均壓措施894.2 高速電路設(shè)計(jì)的電源架構(gòu)904.2.1 集中式電源架構(gòu)904.2.2 分布式電源架構(gòu)904.3 高速電路電源分類及其應(yīng)用要點(diǎn)914.3.1 LDO電源介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)92【案例4-4】 計(jì)算LDO工作時(shí)的結(jié)溫95【案例4-5】 SENSE功能導(dǎo)致電源芯片輸出電壓不穩(wěn)定974.3.2 DC/DC電源介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)100【案例4-6】 計(jì)算柵極電流105【案例4-7】 MOSFET同時(shí)導(dǎo)通導(dǎo)致MOSFET損壞108【案例4-8】 ?48V緩啟電路中MOSFET燒壞111【案例4-9】 基于ADM1066對(duì)多路電源實(shí)現(xiàn)監(jiān)控114【案例4-10】 基于LTC1422實(shí)現(xiàn)上電速度的控制115【案例4-11】 基于電源芯片實(shí)現(xiàn)上電速度的控制115【案例4-12】 基于RC阻容電路實(shí)現(xiàn)延時(shí)功能116【案例4-13】 上電電流過大引起電感嘯叫116【案例4-14】 輸入電源上電過緩造成輸出電源上電波形不單調(diào)1174.3.3 電源管理1244.3.4 保險(xiǎn)管的選型及應(yīng)用124【案例4-15】 熱插拔單板的保險(xiǎn)管選型126第5章 高速電路中的時(shí)序設(shè)計(jì)1275.1 時(shí)序設(shè)計(jì)概述1275.2 時(shí)序參數(shù)介紹1275.3 源同步系統(tǒng)時(shí)序設(shè)計(jì)1295.3.1 源同步系統(tǒng)時(shí)序設(shè)計(jì)原理1295.3.2 源同步系統(tǒng)時(shí)序設(shè)計(jì)范例一1315.3.3 源同步系統(tǒng)時(shí)序設(shè)計(jì)范例二1345.4 共同時(shí)鐘系統(tǒng)時(shí)序設(shè)計(jì)1365.5 源同步系統(tǒng)與共同時(shí)鐘系統(tǒng)的比較137第6章 高速電路中的復(fù)位、時(shí)鐘設(shè)計(jì)1396.1 復(fù)位電路設(shè)計(jì)1396.1.1 與復(fù)位電路相關(guān)的經(jīng)典案例139【案例6-1】 主控板無法通過PCI-X總線查詢到接口板1396.1.2 復(fù)位設(shè)計(jì)介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)141【案例6-2】 存儲(chǔ)模塊讀取的錯(cuò)誤1416.1.3 專用復(fù)位芯片的使用1426.2 時(shí)鐘電路設(shè)計(jì)1456.2.1 與時(shí)鐘電路相關(guān)的經(jīng)典案例145【案例6-3】 系統(tǒng)時(shí)鐘偏快的問題145【案例6-4】 PHY寄存器無法讀取的問題147【案例6-5】 高溫流量測試丟包問題1486.2.2 晶體、晶振介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)150【案例6-6】 利用首個(gè)時(shí)鐘沿啟動(dòng)組合邏輯導(dǎo)致CPU工作不穩(wěn)定1536.2.3 鎖相環(huán)及其應(yīng)用157【案例6-7】 兩級(jí)鎖相環(huán)的應(yīng)用導(dǎo)致MPC8280的PCI時(shí)鐘失鎖1626.2.4 時(shí)鐘抖動(dòng)與相位噪聲164第7章 高速電路中的存儲(chǔ)器應(yīng)用與設(shè)計(jì)1727.1 與存儲(chǔ)器相關(guān)的經(jīng)典案例172【案例7-1】 時(shí)序裕量不足導(dǎo)致存儲(chǔ)器測試出錯(cuò)1727.2 常用存儲(chǔ)器介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)1747.2.1 存儲(chǔ)器概述1747.2.2 SDRAM介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)1767.2.3 DDR SDRAM介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)188【案例7-2】 DLL缺陷造成DDR SDRAM時(shí)序出錯(cuò)192【案例7-3】 VREF不穩(wěn)定造成存儲(chǔ)器讀寫操作出錯(cuò)1987.2.4 DDR2 SDRAM介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)203【案例7-4】 CPU存儲(chǔ)系統(tǒng)不識(shí)別8位內(nèi)存條的問題2117.2.5 SRAM介紹及其應(yīng)用要點(diǎn)212【案例7-5】 片選處理不當(dāng)導(dǎo)致SRAM數(shù)據(jù)丟失2147.2.6 FLASH與EEPROM介紹227【案例7-6】 熱插拔導(dǎo)致單板FLASH損壞227【案例7-7】 讀取百兆光模塊信息出錯(cuò)231第8章 高速電路中的PCB及其完整性設(shè)計(jì)2328.1 與PCB及完整性設(shè)計(jì)相關(guān)的經(jīng)典案例232【案例8-1】 回流路徑缺陷對(duì)高速信號(hào)質(zhì)量的影響2328.2 PCB層疊結(jié)構(gòu)與阻抗計(jì)算2348.2.1 Core和PP2348.2.2 PCB的層疊結(jié)構(gòu)和阻抗設(shè)計(jì)2348.3 高速電路PCB設(shè)計(jì)要點(diǎn)2418.3.1 PCB設(shè)計(jì)與信號(hào)完整性241【案例8-2】 傳輸線的判斷241【案例8-3】 反射的計(jì)算242【案例8-4】 DDR SDRAM設(shè)計(jì)時(shí)，終端電阻RTT布放位置的選擇244【案例8-5】 大驅(qū)動(dòng)電流信號(hào)對(duì)高速數(shù)據(jù)信號(hào)的串?dāng)_250【案例8-6】 高速接口器件批次更換造成輻射超標(biāo)252【案例8-7】 TCK信號(hào)出現(xiàn)回溝導(dǎo)致無法通過JTAG接口對(duì)CPLD進(jìn)行加載2568.3.2 PCB設(shè)計(jì)與電源完整性2578.3.3 PCB設(shè)計(jì)中的EMC260【案例8-8】 網(wǎng)口指示燈信號(hào)線引發(fā)的輻射問題264【案例8-9】 接口芯片與時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器共用電源，導(dǎo)致輻射超標(biāo)2668.3.4 PCB設(shè)計(jì)中的ESD防護(hù)267【案例8-10】 TVS管布放位置不合理導(dǎo)致靜電放電測試失敗268【案例8-11】 GND和HV_GND混用導(dǎo)致電源控制電路失效2708.3.5 PCB設(shè)計(jì)與結(jié)構(gòu)、易用性272【案例8-12】 網(wǎng)口指示燈排列順序出錯(cuò)273【案例8-13】 網(wǎng)口連接器堆疊方式與易插拔特性2738.3.6 PCB設(shè)計(jì)與散熱2748.3.7 PCB設(shè)計(jì)與可測試性275參考文獻(xiàn)279