《數(shù)字化測(cè)試技術(shù)/國(guó)防科技大學(xué)“十二五”研究生重點(diǎn)教材》系統(tǒng)地講述了數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的基本概念、方法與關(guān)鍵技術(shù)問(wèn)題。內(nèi)容包括數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的基本概念,起源、發(fā)展與特點(diǎn),數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)組建的基本框架和測(cè)試的實(shí)施過(guò)程,經(jīng)典數(shù)字信號(hào)處理方法在測(cè)試系統(tǒng)中的具體實(shí)現(xiàn)和物理意義,現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集技術(shù)中的關(guān)鍵數(shù)字器件特性與數(shù)據(jù)采集新技術(shù)、新方法,數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法和開(kāi)發(fā)流程,現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)在數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用,以及數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)準(zhǔn)則、實(shí)現(xiàn)方法、調(diào)試方法及關(guān)鍵技術(shù)問(wèn)題的處理方法。另外,在書(shū)中相應(yīng)的章節(jié)還選取了一些典型的工程實(shí)例和設(shè)計(jì)制作,以幫助讀者深入具體地理解原理內(nèi)涵和技術(shù)本質(zhì)。
《數(shù)字化測(cè)試技術(shù)/國(guó)防科技大學(xué)“十二五”研究生重點(diǎn)教材》的使用對(duì)象主要是儀器科學(xué)與技術(shù)學(xué)科的碩士研究生,對(duì)應(yīng)于儀器科學(xué)與技術(shù)系列課程中的核心課程,也可作為機(jī)械測(cè)試、自動(dòng)化檢測(cè)、航空航天測(cè)試、兵器測(cè)試等相關(guān)研究方向研究生的選修教材!稊(shù)字化測(cè)試技術(shù)/國(guó)防科技大學(xué)“十二五”研究生重點(diǎn)教材》的作用是幫助學(xué)生將所學(xué)的測(cè)試?yán)碚摵头椒ㄅc具體工程技術(shù)和項(xiàng)目實(shí)施緊密聯(lián)系起來(lái),培養(yǎng)學(xué)生具備使用數(shù)字信號(hào)處理器和高級(jí)數(shù)字電路實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集和實(shí)時(shí)處理的能力!稊(shù)字化測(cè)試技術(shù)/國(guó)防科技大學(xué)“十二五”研究生重點(diǎn)教材》的任務(wù)主要是讓學(xué)生明確數(shù)字化測(cè)試的內(nèi)涵,掌握關(guān)鍵技術(shù),熟悉設(shè)計(jì)、制作、調(diào)試數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)并實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能的基本方法。
第1章 緒論
1.1 引言
1.1.1 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的基本概念
1.1.2 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的重要地位
1.1.3 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的起源和發(fā)展
1.1.4 數(shù)字測(cè)試儀表的特點(diǎn)
1.2 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)
1.2.1 現(xiàn)狀
1.2.2 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)
1.3 數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)組建的基本框架
1.4 數(shù)字化測(cè)試技術(shù)涉及的核心問(wèn)題
1.4.1 測(cè)試中激勵(lì)信號(hào)(信號(hào)源)的產(chǎn)生
1.4.2 被測(cè)信號(hào)數(shù)字化處理
1.5 與被測(cè)對(duì)象相關(guān)的測(cè)試信號(hào)接口
1.5.1 總線和接口簡(jiǎn)述
1.5.2 接口標(biāo)準(zhǔn)分類
1.5.3 測(cè)試儀器的主要通信接口
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第2章 數(shù)字化測(cè)試?yán)碚撆c技術(shù)基礎(chǔ)
2.1 歸一化頻譜與測(cè)試采樣
2.1.1 信號(hào)
2.1.2 信號(hào)的基本運(yùn)算
2.1.3 連續(xù)時(shí)間信號(hào)采樣
2.1.4 系統(tǒng)
2.2 數(shù)字頻譜在測(cè)試中的應(yīng)用
2.2.1 傅里葉表示
2.2.2 卷積
2.2.3 快速離散傅里葉變換
2.3 數(shù)字濾波在測(cè)試中的應(yīng)用
2.3.1 簡(jiǎn)介
2.3.2 IIR的設(shè)計(jì)方法
2.3.3 FIR設(shè)計(jì)
2.3.4 濾波器的使用
2.3.5 信號(hào)濾波技術(shù)
2.4 測(cè)試中的實(shí)時(shí)信號(hào)處理
2.4.1 信號(hào)分析與處理問(wèn)題概述
2.4.2 動(dòng)態(tài)信號(hào)的時(shí)域參數(shù)提取
2.4.3 動(dòng)態(tài)信號(hào)的頻譜分析
2.5 測(cè)試中的自適應(yīng)信號(hào)處理
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
第3章 現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集技術(shù)及應(yīng)用
3.1 數(shù)據(jù)采集技術(shù)綜述
3.2 現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
3.2.1 概述
3.2.2 數(shù)據(jù)采集原理
3.2.3 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)結(jié)構(gòu)組成
3.2.4 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的主要性能指標(biāo)
3.2.5 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的發(fā)展方向
3.3 測(cè)試信號(hào)模擬前端
3.3.1 模擬前端的結(jié)構(gòu)組成
3.3.2 傳感器技術(shù)
3.3.3 隔離電路
3.3.4 模擬多路開(kāi)關(guān)
3.3.5 測(cè)量放大器
3.3.6 模擬濾波器
3.4 現(xiàn)代模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器
3.4.1 A/D轉(zhuǎn)換器分類
3.4.2 幾種典型A/D轉(zhuǎn)換器的原理和特點(diǎn)
3.4.3 評(píng)價(jià)A/D轉(zhuǎn)換器性能的關(guān)鍵指標(biāo)
3.4.4 A/D轉(zhuǎn)換器的選擇和使用
3.4.5 A/D轉(zhuǎn)換器與CPU的接口設(shè)計(jì)問(wèn)題
3.5 存儲(chǔ)系統(tǒng)
3.5.1 存儲(chǔ)器概述
3.5.2 半導(dǎo)體存儲(chǔ)器
3.5.3 存儲(chǔ)器與CPU的連接
……
第4章 DSP系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用
第5章 數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)EDA設(shè)計(jì)
第6章 測(cè)試信號(hào)接入、傳輸與總線技術(shù)