本書以光電測(cè)試方法為主線，較全面地介紹了在光電測(cè)試技術(shù)中所涉及的基本理論和概念、主要測(cè)試原理、測(cè)試方法、儀器組成和主要技術(shù)特點(diǎn)。本書除緒論外共8章，緒論介紹了光電測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷史、概況、特點(diǎn)，以及在光電測(cè)試技術(shù)中的數(shù)據(jù)處理方法；第1章介紹了光電測(cè)試技術(shù)中的光輻射體和光輻射探測(cè)器的基本性能和特點(diǎn)；第2章介紹了光學(xué)系統(tǒng)性能的測(cè)試技術(shù)；第3章介紹了光學(xué)元件特性的測(cè)試技術(shù)；第4章介紹了色度學(xué)的基本原理和色度測(cè)試技術(shù)；第5～7章介紹了激光測(cè)試技術(shù)，包括激光準(zhǔn)直、測(cè)速、測(cè)距以及干涉、衍射測(cè)試技術(shù)；第8章介紹了技術(shù)成熟應(yīng)用廣泛的莫爾條紋、圖像測(cè)試、光纖傳感、層析探測(cè)、共焦掃描顯微技術(shù)及納米技術(shù)中的光電測(cè)試技術(shù)等。上述光電測(cè)試技術(shù)廣泛地應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、文教、衛(wèi)生、國(guó)防、科研和家庭生活等各個(gè)領(lǐng)域。