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光幕陣列測試技術及應用

光幕陣列測試技術及應用

定  價:34.5 元

        

  • 作者:倪晉平 著
  • 出版時間:2014/1/1
  • ISBN:9787118088878
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TJ012 
  • 頁碼:264
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:大16開
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    《光幕陣列測試技術與應用》編著者倪晉平。
     《光幕陣列測試技術與應用》圍繞常規(guī)兵器外彈 道參數(shù)領域中使用的光幕測試技術,詳細介紹光幕的 構建、工作原理以及光幕探測與測試中的工程技術。
    全書共分7章,主要敘述雙光幕測試彈丸初速、多光 幕陣列測試彈丸著靶坐標等參數(shù)的測量原理和設計技 術,探索采用光幕陣列測試多目標的方法,最后總結 光幕測試技術在常規(guī)兵器試驗場的應用。書中融入了 作者及作者所在團隊20余年從事常規(guī)兵器外彈道試驗 與測試研究工作的經驗和實踐體會,納入了作者及團 隊近年來在國內外發(fā)表的十余篇論文以及有關專利的 內容。
     本書對光幕測試彈丸飛行速度和著靶坐標的技術 敘述詳盡,測量公式的推導力求系統(tǒng)、深入,可供本 領域的科學研究人員與工程技術人員參考,也可以作 為有關專業(yè)高等學校的本科生、研究生和教師的參考 書。
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