譚劍波、尤路、黃新、張卿、孫大成等編著的這本《邊界掃描測試技術(shù)》主要從邊界掃描技術(shù)的產(chǎn)生、原理以及應(yīng)用三個方面，對邊界掃描技術(shù)作了較為詳細的介紹。包括用于數(shù)字電路測試的標準IEEE 1149.1、混合電路測試標準IEEE 1149.4、系統(tǒng)級測試標準IEEE 1149.5、高速數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃描測試標準IEEE 1149.6，邊界掃描技術(shù)在芯片設(shè)計中的應(yīng)用，網(wǎng)絡(luò)型邊界掃描測試控制器的設(shè)計以及相關(guān)可測試性及工程應(yīng)用設(shè)計實例等內(nèi)容。
　　《邊界掃描測試技術(shù)》可作為高等院校電子信息、通信、測試測控、自動化等電子類學(xué)科專業(yè)高年級學(xué)生或研究生的課程教材使用，也可作為電子類相關(guān)領(lǐng)域工程技術(shù)人員的參考資料。