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軟件測(cè)試

軟件測(cè)試

定  價(jià):129 元

        

  • 作者:(美)保羅·C.喬根森(Paul C. Jorgensen) ,(美)拜倫·德弗里斯(Byron DeVries)著
  • 出版時(shí)間:2024/6/1
  • ISBN:9787111752639
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TP311.55 
  • 頁(yè)碼:12,404頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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讀者對(duì)象:面向軟件測(cè)試工程師,以及高校計(jì)算機(jī)、軟件相關(guān)專業(yè)的學(xué)生

本書(shū)綜合闡述了軟件測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)和方法,主要分為三個(gè)部分。第一部分介紹軟件測(cè)試的數(shù)學(xué)背景,包括集合論、圖論、函數(shù)、命題邏輯等內(nèi)容。第二部分討論如何進(jìn)行單元測(cè)試,包括邊界值測(cè)試、等價(jià)類測(cè)試、基于決策表的測(cè)試、基于代碼的測(cè)試和面向?qū)ο蟮臏y(cè)試等內(nèi)容。第三部分探討單元測(cè)試之外的測(cè)試方法,包括基于生命周期的測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、基于模型的測(cè)試等內(nèi)容。本書(shū)做到了理論與實(shí)踐的有效結(jié)合,反映了軟件測(cè)試和開(kāi)發(fā)的新進(jìn)展和新變化。
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