神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)計算引發(fā)了新一輪信息技術(shù)革命，也對硬件的性能提出了更高的需求�；�于模擬型阻變存儲器的存算一體系統(tǒng)可以有效緩解存儲墻問題，阻變存儲器的可靠性退化問題是影響存算一體系統(tǒng)準(zhǔn)確率的關(guān)鍵因素，當(dāng)前尚缺乏面向神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的可靠性研究。
本書從神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)計算的應(yīng)用需求出發(fā)，建立了從器件到系統(tǒng)的跨層次可靠性分析與評估框架；圍繞模擬型阻變存儲器的數(shù)據(jù)保持特性建立了適用于多阻態(tài)、多溫度和多陣列形態(tài)的陣列級保持特性退化模型；針對現(xiàn)有的循環(huán)耐久性表征方法難以模擬在線訓(xùn)練時權(quán)重更新的問題提出了小步長增量阻變方法，并通過階段式采樣模擬阻變曲線證明了循環(huán)耐久性的耦合效應(yīng)是導(dǎo)致在線訓(xùn)練準(zhǔn)確率損失的直接原因。
本書可供從事神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)計算、阻變存儲器、可靠性研究的高校師生、科研院所研究人員及相關(guān)技術(shù)人員閱讀參考。