本書系統(tǒng)地介紹了電子元器件失效分析技術(shù)及典型分析案例。全書分為基礎(chǔ)篇和案例篇�；�礎(chǔ)篇闡述電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析程序、失效分析技術(shù)以及失效分析主要儀器設(shè)備與工具；案例篇按照元器件門類分為九章，即集成電路、微波器件、混合集成電路、分立器件、阻容元件、繼電器和連接器、電真空器件、板極電路和其它器件，共計138個失效分析典型案例，各章節(jié)突出介紹了該類器件的失效特點(diǎn)、主要失效模式及相關(guān)失效機(jī)理，提出了預(yù)防和控制使用失效發(fā)生的必要措施。 本書具有較強(qiáng)的實用性，可供失效分析專業(yè)工作者以及元器件和整機(jī)研制、生產(chǎn)單位的工程技術(shù)人員使用，也可作為高等學(xué)校半導(dǎo)體器件專業(yè)的教學(xué)參考書。