本書(shū)為高等學(xué)校教學(xué)用書(shū)，是實(shí)驗(yàn)實(shí)踐類(lèi)教材，指導(dǎo)讀者在理論學(xué)習(xí)基礎(chǔ)上掌握對(duì)材料進(jìn)行各種電子顯微分析的技術(shù)與方法。特別是本書(shū)引入了多項(xiàng)相關(guān)分析的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，也可作為標(biāo)準(zhǔn)宣貫的參考資料。主要內(nèi)容包括：（1）透射電鏡與掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)和調(diào)試，各種成像方式的原理、技術(shù)及應(yīng)用；（2）主要電子衍射技術(shù)（包括選區(qū)衍射、菊池花樣、會(huì)聚束衍射、STEM衍射和背散射衍射）的原理，實(shí)驗(yàn)技術(shù)和衍射譜的詮釋及應(yīng)用；（3）試樣微區(qū)化學(xué)分析（TEM和SEM中X射線能譜分析的原理和技術(shù)，電子能量損失譜分析方法等）；（4）試樣制備技術(shù)。