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低功耗設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

低功耗設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

定  價(jià):58 元

        

  • 作者:(波蘭)普羅吉納·孔達(dá)卡爾著;周傳瑞譯
  • 出版時(shí)間:2023/11/1
  • ISBN:9787030769190
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN470.2 
  • 頁碼:180
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16
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讀者對(duì)象:微電子、電子信息工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)本科生/研究生,以及數(shù)字IC驗(yàn)證工程師

本書提出功耗感知驗(yàn)證的概念和基本原理,結(jié)合驗(yàn)證項(xiàng)目介紹多種功耗驗(yàn)證技術(shù)、工具及方法,旨在幫助VLSI低功耗設(shè)計(jì)和驗(yàn)證人員在低功耗領(lǐng)域從零開始積累經(jīng)驗(yàn)。《BR》本書主要內(nèi)容包括UPF建模、功耗感知標(biāo)準(zhǔn)庫、基于UPF的動(dòng)態(tài)功耗仿真、基于UPF的靜態(tài)功耗驗(yàn)證等。本書風(fēng)格簡潔實(shí)用,面向VLSI低功耗設(shè)計(jì)和驗(yàn)證領(lǐng)域從初學(xué)者到專家的廣泛人群。

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