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片上系統(tǒng)測試設(shè)計(jì)與優(yōu)化

片上系統(tǒng)測試設(shè)計(jì)與優(yōu)化

定  價(jià):88 元

        

  • 作者:(瑞典)埃里克·拉森著;孫仁杰譯
  • 出版時(shí)間:2023/11/1
  • ISBN:9787030769183
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TP360.21 
  • 頁碼:328
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16
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讀者對象:數(shù)字IC前端設(shè)計(jì)人員、以及高等院校微電子、電子信息工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)師生

本書旨在討論片上系統(tǒng)(SoC)測試的相關(guān)問題,包括建模以及片上系統(tǒng)測試解決方案的設(shè)計(jì)和優(yōu)化。需要測試的系統(tǒng)越來越復(fù)雜,測試數(shù)據(jù)量不斷增加,如何組織測試,即測試調(diào)度變得越來越重要。本書主要站在系統(tǒng)級的角度闡明模塊化SoC測試領(lǐng)域的諸多問題!禕R》本書由三部分組成,在概述經(jīng)典測試方法的基礎(chǔ)上,介紹測試大型、模塊化和異構(gòu)SoC面臨的挑戰(zhàn)和困難,并詳細(xì)介紹作者團(tuán)隊(duì)為克服上述困難所做的研究工作。

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