本書借鑒了臺北故宮博物院和日本東京文化財研究所科研合作的思路經(jīng)驗，使用現(xiàn)代的物證鑒定儀器設(shè)備，對書畫物證進(jìn)行高精細(xì)彩色檢測、顯微檢測、熒光檢測、紫外光檢測和近紅外光檢測等物證無損檢驗檢測。通過這些光學(xué)檢測，可以更加清晰、更加豐富地觀察、分析、檢驗書畫絹本、墨色、顏料、印泥的質(zhì)地現(xiàn)況、舊損形態(tài)、修補(bǔ)痕跡等顯微痕跡形態(tài)和光譜信息，以及書畫繪制精細(xì)圖像的表現(xiàn)方式等。