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基于語義知識(shí)的軟件缺陷分析關(guān)鍵技術(shù)研究

基于語義知識(shí)的軟件缺陷分析關(guān)鍵技術(shù)研究

定  價(jià):68 元

        

  • 作者:鄭煒,吳瀟雪,李云帆著
  • 出版時(shí)間:2022/2/1
  • ISBN:9787569316865
  • 出 版 社:西安交通大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TP311.55 
  • 頁碼:141頁
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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讀者對(duì)象:軟件測(cè)試研究相關(guān)人員

本書共六章,內(nèi)容包括:軟件缺陷領(lǐng)域命名實(shí)體識(shí)別方法、DB-CNN-NER重復(fù)軟件缺陷報(bào)告檢測(cè)方法、基于關(guān)鍵詞語義的安全缺陷報(bào)告識(shí)別方法、基于知識(shí)圖譜的跨項(xiàng)目安全缺陷報(bào)告預(yù)測(cè)方法等。
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