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集成電路開發(fā)與測試(中級)

集成電路開發(fā)與測試(中級)

定  價:58 元

        

  • 作者:杭州朗迅科技有限公司 組編 居水榮 夏
  • 出版時間:2020/12/1
  • ISBN:9787040553062
  • 出 版 社:高等教育出版社
  • 中圖法分類:TN40 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書是1 X職業(yè)技能等級證書配套教材,對應(yīng)于集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級證書,涵蓋中級證書相關(guān)工作領(lǐng)域,由版圖輔助設(shè)計、晶圓制程、晶圓測試、集成電路封裝、集成電路測試、集成電路應(yīng)用6個項目組成,針對助理版圖設(shè)計工程師、助理設(shè)備保障工程師、助理軟件調(diào)試工程師、外觀檢驗員、測試員、生產(chǎn)保障技術(shù)員等崗位涉及的工作領(lǐng)域和任務(wù)所需的職業(yè)技能要求介紹相關(guān)理論知識和實操內(nèi)容。 本書可作為集成電路開發(fā)與測試1 X職業(yè)技能等級證書(中級)的培訓(xùn)認證教材,也可作為高等職業(yè)院校相關(guān)實踐環(huán)節(jié)教學(xué)用書或集成電路相關(guān)行業(yè)及企業(yè)員工的崗前培訓(xùn)教材,還可供工程技術(shù)人員參考使用。

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