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鐵磁材料缺陷的磁記憶檢測(cè)技術(shù)

鐵磁材料缺陷的磁記憶檢測(cè)技術(shù)

定  價(jià):89 元

        

  • 作者:王長(zhǎng)龍[等]著
  • 出版時(shí)間:2021/6/1
  • ISBN:9787118122534
  • 出 版 社:國(guó)防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TM274-34 
  • 頁(yè)碼:134頁(yè)
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16K
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本書(shū)介紹了金屬磁記憶檢測(cè)的原理、國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì);根據(jù)磁性物質(zhì)的特點(diǎn)和力-磁耦合模型,探討了金屬磁記憶檢測(cè)機(jī)理和影響因素;將形態(tài)濾波和EMD分解閾值濾波方法結(jié)合起來(lái),實(shí)現(xiàn)了金屬磁記憶檢測(cè)信號(hào)的降噪處理;將磁梯度張量測(cè)量分析方法應(yīng)用到信號(hào)特征提取中,提出以總梯度模量作為判據(jù)的磁記憶缺陷檢測(cè)方法;分析了不同類型缺陷的磁記憶信號(hào)分布特征差異,提出了基于磁記憶信號(hào)垂面分布特征缺陷損傷狀態(tài)識(shí)別方法;提取了一種可增強(qiáng)缺陷邊界特征的特征量,實(shí)現(xiàn)缺陷二維分布反演;建立了缺陷三維空間反演離散陣列模型,論述了基于截?cái)鄰V義逆矩陣和空間縮小的缺陷反演方法,實(shí)現(xiàn)缺陷三維輪廓重構(gòu)。
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