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DEM插值算法適應(yīng)性理論與方法 
定 價：129 元 叢書名：空間建模與可視分析叢書
9 7 3 8 7 7 6 1 1 2 7 1 7 讀者對象:本書可以作為地圖學(xué)與地理信息工程（系統(tǒng)）、環(huán)境科學(xué)與工程、地理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、作戰(zhàn)環(huán)境學(xué)等地球科學(xué)領(lǐng)域的研究生或本科生的輔助教材，也可以作為高等院校測繪科學(xué)與技術(shù)、遙感科學(xué)、地理信息科學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域研究人員的科研參考書。
DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分，原始數(shù)據(jù)精度、插值算法、地貌類型、采樣數(shù)據(jù)分布特征和尺度是影響DEM精度的主要因素之一。插值算法作為其中的直接因素，地貌類型、采樣數(shù)據(jù)分布特征和尺度等因素通過插值算法影響DEM精度。因此，從影響DEM插值精度的不同因素出發(fā)，研究DEM插值算法的適應(yīng)性問題，對降低DEM插值的不確定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意義。本書圍繞DEM插值參數(shù)、地貌類型適應(yīng)性、采樣數(shù)據(jù)分布特征適應(yīng)性、尺度適應(yīng)性等問題展開了DEM插值算法適應(yīng)性的研究和實踐。本書可以作為地圖學(xué)與地理信息工程（系統(tǒng)）、環(huán)境科學(xué)與工程、地理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、作戰(zhàn)環(huán)境學(xué)等地球科學(xué)領(lǐng)域的研究生或本科生的輔助教材，也可以作為測繪科學(xué)與技術(shù)、遙感科學(xué)、地理信息科學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域研究人員的科研參考書。
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