無(wú)損檢測(cè)儀器標(biāo)準(zhǔn)匯編(下)
定 價(jià):120 元
- 作者:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
- 出版時(shí)間:2019/9/1
- ISBN:9787506694551
- 出 版 社:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
- 中圖法分類:TG115.28-65
- 頁(yè)碼:360
- 紙張:膠版紙
- 版次:1
- 開(kāi)本:大16開(kāi)
無(wú)損檢測(cè)儀器,是指對(duì)材料或工件實(shí)施一種不損害或不影響其未來(lái)使用性能或用途的檢測(cè)儀器。通過(guò)使用無(wú)損檢測(cè)儀器,能發(fā)現(xiàn)材料或工件內(nèi)部和表面所存在的缺欠,能測(cè)量工件的幾何特征和尺寸,能測(cè)定材料或工件的內(nèi)部組成、結(jié)構(gòu)、物理性能和狀態(tài)等。本匯編將收集截至2019年5月底發(fā)
射線檢測(cè)儀器
GB/T 19802-2005 無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相觀片燈 最低要求
GB/T 1 9803-2005 無(wú)損檢測(cè) 射線照相像質(zhì)計(jì) 原則與標(biāo)識(shí)
GB 22448-2008 500 kV以下工業(yè)X射線探傷機(jī)防護(hù)規(guī)則
GB/T 23903-2009 射線圖像分辨力測(cè)試計(jì)
GB/T 23909.2-2009 無(wú)損檢測(cè) 射線透視檢測(cè)第2部分:成像裝置長(zhǎng)期穩(wěn)定性的校驗(yàn)
GB/T 23910-2009 無(wú)損檢測(cè) 射線照相檢測(cè)用金屬增感屏
GB/T 26592-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測(cè)試方法
GB/T 26593-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線CT裝置性能測(cè)試方法
GB/T 26594-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線管性能測(cè)試方法
GB/T 26595-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 周向X射線管技術(shù)條件
GB/T 26830-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 高頻恒電位工業(yè)X射線探傷機(jī)
GB/T 26833-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線管通用技術(shù)條件
GB/T 26834-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 小焦點(diǎn)及微焦點(diǎn)X射線管 有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量方法
GB/T 26835-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線CT裝置通用技術(shù)條件
GB/T 26836-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 金屬陶瓷X射線管技術(shù)條件
GB/T 26837-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 固定式和移動(dòng)式工業(yè)X射線探傷機(jī)
GB/T 26838-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 攜帶式工業(yè)X射線探傷機(jī)
GB/T 36017-2018 無(wú)損檢測(cè)儀器 X射線熒光分析管
GB/T 36071-2018 無(wú)損檢測(cè)儀器 X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)檢測(cè)儀技術(shù)要求
GB/T 36015-2018 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)X射線數(shù)字成像裝置性能和檢測(cè)規(guī)則
其他無(wú)損檢測(cè)儀器
GB/T 15822.3-2005 無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè) 第3部分:設(shè)備
GB/T 18851.4-2005 無(wú)損檢測(cè) 滲透檢測(cè) 第4部分:設(shè)備
GB/T 26832-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 鋼絲繩電磁檢測(cè)儀技術(shù)條件
GB/T 33886-2017 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)電子內(nèi)窺鏡檢測(cè)儀
GB/T 33887-2017 無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)光纖內(nèi)窺鏡檢測(cè)儀
GB/T 33889-2017 無(wú)損檢測(cè)儀器 渦流一漏磁綜合檢測(cè)儀技術(shù)規(guī)則
GB/T 35090-2018 無(wú)損檢測(cè) 管道弱磁檢測(cè)方法
JB/T 8290-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器 磁粉探傷機(jī)
JB/T 11605-2013 無(wú)損檢測(cè)儀器 金屬磁記憶檢測(cè)儀技術(shù)條件
JB/T 11606-2013 無(wú)損檢測(cè)儀器 金屬磁記憶檢測(cè)儀性能試驗(yàn)方法