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本書收錄了第19屆高級模擬電路研討會上18位演講者的發(fā)言稿，每一個部分都討論了有關(guān)模擬電路設(shè)計特定領(lǐng)域的新主題與極富價值的設(shè)計理念。每一部分的內(nèi)容都由本領(lǐng)域內(nèi)的六位專家來陳述，并負責(zé)分享當前新的技術(shù)資訊。本書主要內(nèi)容包括魯棒性設(shè)計、Sigma-Delta數(shù)-模轉(zhuǎn)換器以及射頻設(shè)計技術(shù)。對于投身于模擬電路設(shè)計領(lǐng)域且希望跟蹤本領(lǐng)域新技術(shù)的研究人員而言，本書是一本不錯的參考文獻。本書所涵蓋的內(nèi)容也適用于高級電路設(shè)計課程。

目　　錄譯者序原書前言貢獻者第１部分　魯棒性設(shè)計第１章　納米ＣＭＯＳ技術(shù)中模擬集成電路的可靠性建模與設(shè)計３ＧｅｏｒｇｅｓＧｉｅｌｅｎ，ＥｌｉｅＭａｒｉｃａｕ和ＰｉｅｔｅｒＤｅＷｉｔ第２章　納米ＣＭＯＳ技術(shù)中的統(tǒng)計變異性建模和模擬１４Ａ.. Ａｓｅｎｏｖ和Ｂ.. Ｃｈｅｎｇ第３章　納米尺度模擬ＣＭＯＳ的高級物理設(shè)計２７ＬａｎｎｙＬ.. Ｌｅｗｙｎ第４章　高溫高壓應(yīng)用環(huán)境下的健壯性設(shè)計４１ＯｖｉｄｉｕＶｅｒｍｅｓａｎ，ＥｄｇａｒｄＬａｅｓ，ＭａｒｃｏＯｔｔｅｌｌａ，ＭａｍｕｎＪａｍａｌ，ＪａｎＫｕｂｉｋ，ＫａｆｉｌＭ.. Ｒａｚｅｅｂ，ＲｅｉｎｅｒＪｏｈｎ，ＨａｒａｌｄＧａｌｌ，ＭａｓｓｉｍｏＡｂｒａｔｅ，ＮｉｃｏｌａｓＣｏｒｄｅｒｏ和ＪａｎＶｃｅｌａｋ第５章　ＣＭＯＳ技術(shù)中的輻射效應(yīng)與加固設(shè)計５４ＦｅｄｅｒｉｃｏＦａｃｃｉｏ第６章　智能功率高位開關(guān)電磁兼容性設(shè)計７０ＰａｏｌｏＤｅｌＣｒｏｃｅ和ＢｅｒｎｄＤｅｕｔｓｃｈｍａｎｎ第２部分�。樱椋纾恚�.Ｄｅｌｔａ轉(zhuǎn)換器第７章　噪聲耦合Ｄｅｌｔａ.Ｓｉｇｍａ模.數(shù)轉(zhuǎn)換器（ＡＤＣ）８２ＫｙｅｈｙｕｎｇＬｅｅ和ＧａｂｏｒＣ.. Ｔｅｍｅｓ第８章　甚低過采樣率Ｓｉｇｍａ.Ｄｅｌｔａ轉(zhuǎn)換器１０３ＴｒｅｖｏｒＣ.. Ｃａｌｄｗｅｌｌ第９章　基于比較器的開關(guān)電容Ｄｅｌｔａ.ＳｉｇｍａＡ.Ｄ轉(zhuǎn)換器１２１ＫｏｅｎＣｏｒｎｅｌｉｓｓｅｎｓ和ＭｉｃｈｉｅｌＳｔｅｙａｅｒｔ第１０章　基于ＶＣＯ的寬帶連續(xù)時間Ｓｉｇｍａ.Ｄｅｌｔａ數(shù).模轉(zhuǎn)換器１３８ＭｉｃｈａｅｌＨ.. Ｐｅｒｒｏｔｔ第１１章　寬帶連續(xù)時間多比特Ｄｅｌｔａ.ＳｉｇｍａＡＤＣ１６０Ｊ.. Ｓｉｌｖａ.Ｍａｒｔｉｎｅｚ，Ｃ.. .Ｙ.. Ｌｕ，Ｍ.. Ｏｎａｂａｊｏ，Ｆ.. Ｓｉｌｖａ.Ｒｉｖａｓ，Ｖ.. Ｄｈａｎａｓｅｋａｒａｎ和Ｍ.. Ｇａｍｂｈｉｒ第１２章　過采樣數(shù).模轉(zhuǎn)換器（ＤＡＣ）１８０ＡｎｄｒｅａＢａｓｃｈｉｒｏｔｔｏ，ＶｉｔｔｏｒｉｏＣｏｌｏｎｎａ和ＧａｂｒｉｅｌｅＧａｎｄｏｌｆｉ第３部分　射頻識別技術(shù) 第１３章�。遥疲桑摹豁椩诠I(yè)應(yīng)用中蓄勢待發(fā)的技術(shù) ２０５ＨｅｎｒｉＢａｒｔｈｅｌ第１４章　世界上最小的ＲＦＩＤ芯片技術(shù) ２２０ＭｉｔｓｕｏＵｓａｍｉ第１５章�。遥� 和ＲＦＩＤ的低功耗模擬設(shè)計２２９ＲａｙｍｏｎｄＢａｒｎｅｔｔ第１６章　一種雙頻帶綜合射頻識別標簽２４７ＡｌｂｅｒｔＭｉｓｓｏｎｉ，ＧüｎｔｅｒＨｏｆｅｒ和ＷｏｌｆｇａｎｇＰｒｉｂｙｌ第１７章　印刷電子學(xué)———電路、產(chǎn)品和路線圖的首次提出２６４ＪüｒｇｅｎＫｒｕｍｍ和ＷｏｌｆｇａｎｇＣｌｅｍｅｎｓ第１８章�。牛校� 兼容有機ＲＦＩＤ標簽２７５

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