本書是職業(yè)教育崗課賽證融通教材，也是集成電路職業(yè)標準建設(shè)系列教材之一、集成電路1X職業(yè)技能等級證書系列教材之一。本書主要包括導論、模擬芯片LM1117塑料封裝、模擬芯片LM1117測試、數(shù)字芯片74LS138金屬封裝、數(shù)字芯片74LS138測試、存儲器芯片封裝與測試等內(nèi)容，融入集成電路封裝與測試崗位、集成電路開發(fā)及應(yīng)用

本書內(nèi)容是基于AltiumDesigner23軟件平臺編寫的，通過單片機應(yīng)用實例，按照實際的設(shè)計步驟講解AltiumDesigner23的使用方法，詳細介紹AltiumDesigner的操作步驟。本書主要內(nèi)容包括：AltiumDesigner環(huán)境設(shè)置、庫操作、原理圖繪制、原理圖繪制的優(yōu)化方法、PCB的基礎(chǔ)知識、PCB布

本書系統(tǒng)論述了微電子電路的基本知識及其應(yīng)用，全書共分為18章，涵蓋了固態(tài)電子學與器件、數(shù)字電路和模擬電路三部分知識體系，通過本書的學習，讀者可以全面了解現(xiàn)代電子設(shè)計技術(shù)、模擬電路、數(shù)字電路及分立電路和集成電路。在固態(tài)電子學與器件部分，主要介紹了電子學的基本原理及固態(tài)電子學基礎(chǔ)、二極管的i-V特性及晶體管的SPICE模型

根據(jù)集成電路產(chǎn)業(yè)對設(shè)計人才的實際需求情況，本書基于華大九天國產(chǎn)EDA系統(tǒng)，以“集成電路版圖設(shè)計”這一工作任務(wù)為主線，結(jié)合編者多年的企業(yè)實踐與教學經(jīng)驗，以及本課程項目化內(nèi)容改革成果進行編寫。本書主要包括集成電路版圖設(shè)計基礎(chǔ)知識、基于華大九天系統(tǒng)的集成電路版圖設(shè)計流程及基于華大九天系統(tǒng)的集成電路版圖設(shè)計案例三大模塊組成，其

本書從多種視角對各種扇出和嵌入式芯片技術(shù)進行闡述，首先從市場角度對扇出和晶圓級封裝的技術(shù)趨勢進行分析，然后從成本角度對這些解決方案進行研究，討論了由臺積電、Deca、日月光等公司創(chuàng)建的先進應(yīng)用領(lǐng)域的封裝類型。本書還分析了新技術(shù)和現(xiàn)有技術(shù)的IP環(huán)境和成本比較，通過對新型封裝半導體IDM公司(如英特爾、恩智浦、三星等)的技

本書內(nèi)容豐富，敘述詳盡清晰，圖文并茂，通過大量的資料和設(shè)計實例說明了PCB設(shè)計中的一些技巧和方法，以及應(yīng)該注意的問題，具有工程性好、實用性強的特點。本書共15章，分別介紹了印制電路板（PCB）上焊盤、過孔、疊層、走線、接地、去耦合、電源電路、時鐘電路、模擬電路、高速數(shù)字電路、模數(shù)混合電路、射頻電路等PCB設(shè)計的基礎(chǔ)知識

本書分成三卷，內(nèi)容的安排是這樣：第一卷主要介紹RISC和計算機微結(jié)構(gòu)的一般原理，RSC-V的指令集架構(gòu)(以前稱系統(tǒng)結(jié)構(gòu))，以及硬件描述語言HDL的一般原理。第二卷是對香山代碼中CPU流水線前端和后端的剖析和講解。第三卷專講緩存。緩存是整個存儲子系統(tǒng)中最復(fù)雜的部分。

本書采用實踐方法編寫，描述了使用MMMC實現(xiàn)高級ASIC設(shè)計的高級概念和技術(shù)。本書側(cè)重于物理設(shè)計、靜態(tài)時序分析(STA)、形式和物理驗證，書中的腳本基于Cadence?EncounterSystem?，涵蓋數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、多模式多角點分析、設(shè)計約束、布局規(guī)劃和時序、放置和時間、時鐘樹綜合、最終路線和時間、設(shè)計簽核等主題。 本

本書全面介紹使用Verilog進行RTL設(shè)計的ASIC設(shè)計流程和綜合方法。本書共20章，內(nèi)容包括ASIC設(shè)計流程、時序設(shè)計、多時鐘域設(shè)計、低功耗的設(shè)計考慮因素、架構(gòu)和微架構(gòu)設(shè)計、設(shè)計約束和SDC命令、綜合和優(yōu)化技巧、可測試性設(shè)計、時序分析、物理設(shè)計、典型案例等。本書提供了大量的練習題和案例分析，可以幫助讀者更好地理解和

《數(shù)字集成電路測試——理論、方法與實踐》全面介紹數(shù)字集成電路測試的基礎(chǔ)理論、方法與EDA實踐。第1章為數(shù)字集成電路測試技術(shù)導論，第2～9章依次介紹故障模擬、測試生成、可測試性設(shè)計、邏輯內(nèi)建自測試、測試壓縮、存儲器自測試與自修復(fù)、系統(tǒng)測試和SoC測試、邏輯診斷與良率分析等基礎(chǔ)測試技術(shù)，第10章擴展介紹在汽車電子領(lǐng)域發(fā)展的