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現(xiàn)代光學測試技術(shù) 
定 價：47.4 元
9 7 3 8 6 7 6 0 6 3 4 0 1 讀者對象:相關(guān)專業(yè)的研究生，相關(guān)工程技術(shù)人員
現(xiàn)代光學測試技術(shù)研究領(lǐng)域包括光干涉技術(shù)、光衍射技術(shù)、光偏振技術(shù)、光全息技術(shù)、光掃描技術(shù)、光散斑技術(shù)、莫爾技術(shù)、光譜技術(shù)、光纖技術(shù)，等等。《現(xiàn)代光學測試技術(shù)》涉及內(nèi)容除基本光學測量技術(shù)外，主要以光干涉測試技術(shù)為主，介紹了各種光學量的測試原理及測試方法。全書共11章。第一、二章系統(tǒng)地介紹了現(xiàn)代光學測試技術(shù)的基本理論及其發(fā)展；第三章介紹了光學材料及其基本參數(shù)的測試問題；第四章系統(tǒng)介紹了幾種常用的典型干涉儀；第五章是光電相位探測技術(shù)；第六、七章分別介紹了平面元件與球面元件測試技術(shù)；第八章介紹了非球面測試技術(shù)的基本知識及測試方法；第九章介紹了干涉測長技術(shù)；第十章介紹了莫爾條紋測量技術(shù)；第十一章介紹了光學系統(tǒng)成像質(zhì)量評價方法。
《現(xiàn)代光學測試技術(shù)》具有理論與實踐密切結(jié)合、論述系統(tǒng)深入的特點，可作為相關(guān)專業(yè)的研究生教材，也可供相關(guān)工程技術(shù)人員作為設(shè)計光學測試系統(tǒng)的參考資料。 更多科學出版社服務(wù)，請掃碼獲取。 
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