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現代光學測試技術(普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材)

現代光學測試技術(普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材)

定  價:39.8 元

叢書名:普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材

        

  • 作者:王文生 等著
  • 出版時間:2013/7/1
  • ISBN:9787111419747
  • 出 版 社:機械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁碼:313
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現代光學測試技術》側重于把各種光學測試技術與CCD等現代探測器、EALCD空間光調制器和計算機技術相結合,故所討論的方法具有實時化、自動化和數字化特點。為了提高測試精度,《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現代光學測試技術》中引入了數字圖像處理算法,并把各種算法,包括傅里葉變換、小波變換、拉普拉斯、綜合識別函數等成功地應用于相關探測、全息測試、散斑測試等中,使光學、專業(yè)數學和計算機學相結合。本書中的許多測試實例是作者科研團隊和國內外許多專家的科研成果,故本書將理論與測試實踐緊密結合,所討論的方法具有實用性和先進性。全書的章、節(jié)、目、圖和專業(yè)詞匯均用英語標出,且每章均給出英語專業(yè)詞匯列表,以利于雙語教學和文獻查閱。
  全書共分十章,內容包括:干涉測試基礎,單頻干涉術,雙頻干涉術,莫爾干涉術,全息術,全息干涉術,全信息測量技術,散斑干涉術,光學相關測試技術,光源、記錄介質和探測器。每章末均附有習題。
  《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現代光學測試技術》主要適用于光電信息工程、精密儀器與測試專業(yè)的本科生和研究生,同時也可供相關科研工作者參考。
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