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SMT單板互連可靠性與典型失效場景

SMT單板互連可靠性與典型失效場景

定  價(jià):168 元

        

  • 作者:賈忠中
  • 出版時(shí)間:2024/8/1
  • ISBN:9787121486371
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN305 
  • 頁碼:288
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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讀者對象:適合于從事電子制造、可靠性、失效分析工作的工程師學(xué)習(xí)與參考。也可作為職業(yè)技術(shù)院校電子制造相關(guān)專業(yè)的教材。

本書是作者從事電子制造40年來有關(guān)單板互連可靠性方面的經(jīng)驗(yàn)總結(jié),討論了單板常見的失效模式、典型失效場景以及如何設(shè)計(jì)與制造高可靠性產(chǎn)品的廣泛問題,并通過大量篇幅重點(diǎn)討論了焊點(diǎn)的斷裂失效現(xiàn)象及裂紋特征。 全書內(nèi)容共4個(gè)部分,第一部分為焊點(diǎn)失效機(jī)理與裂紋特征,詳細(xì)介紹焊點(diǎn)的失效模式、失效機(jī)理、裂紋特征及失效分析方法;第二部分為高可靠性產(chǎn)品的焊點(diǎn)設(shè)計(jì),包括封裝選型、PCBA的互連結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、組裝熱設(shè)計(jì)及焊點(diǎn)的壽命評估技術(shù);第三部分為環(huán)境腐蝕與三防處理,重點(diǎn)介紹腐蝕失效與錫須問題,以及與之相關(guān)的清洗和三防工藝;第四部分為高可靠性產(chǎn)品的制造,重點(diǎn)介紹組裝工藝控制要點(diǎn)與典型缺陷焊點(diǎn)。 本書可供從手電子制造、可靠性、失效分析工作的工程師學(xué)習(xí)與參考。
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