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敏感性試驗的優(yōu)化設計及參數(shù)估計

敏感性試驗的優(yōu)化設計及參數(shù)估計

定  價:88 元

        

  • 作者:田玉斌
  • 出版時間:2024/6/1
  • ISBN:9787030767806
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:O212.6 
  • 頁碼:190
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:B5
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讀者對象:敏感性試驗設計方向研究生、青年教師 敏感性試驗設計工程師(包含關于燃爆產(chǎn)品試驗的敏感性試驗設計、以及關于藥劑有效性和毒性試驗的敏感性試驗設計)

敏感性試驗設計是試驗設計研究領域的主要研究方向之一,其應用背景主要是針對燃爆產(chǎn)品試驗和藥劑試驗,通過設計若干刺激水平和觀測對應的二元響應數(shù)據(jù),估計感興趣的特殊刺激水平,如成功響應概率p對應的刺激水平,稱其為感度分布的p分位數(shù)。 傳統(tǒng)的敏感性試驗設計沒有優(yōu)化準則,而且希望估計的主要是0.5分位數(shù)。隨著對研究對象更高質(zhì)量的要求,在中小樣本下估計極端p分位數(shù)的需求越來越強烈。本專著主要給出估計該類極端p分位數(shù)的優(yōu)化試驗設計方法,并在三元響應和混合響應情形下給出廣義敏感性試驗設計的概念、統(tǒng)計模型和廣義p分位數(shù)的表達式。進一步給出估計廣義p分位數(shù)的優(yōu)化試驗設計方法。 為了方便使用者,本專著還將給出各種方法的R程序,并展示具體應用實例。

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