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激光測高衛(wèi)星數(shù)據(jù)處理關(guān)鍵技術(shù)及應(yīng)用 讀者對象:本書適合測繪工程、遙感科學與技術(shù)專業(yè)技術(shù)的科研人員、高年級研究生和本科生閱讀。
本書內(nèi)容以激光測高衛(wèi)星數(shù)據(jù)的幾何處理技術(shù)為主,介紹國內(nèi)外激光測高衛(wèi)星數(shù)據(jù)產(chǎn)品的分級體系,分析激光測高衛(wèi)星鏈路中影響幾何定位精度的主要誤差源,闡述激光測高衛(wèi)星數(shù)據(jù)幾何處理的關(guān)鍵技術(shù)與方法,旨在使讀者能在較短的時間內(nèi)掌握激光測高衛(wèi)星數(shù)據(jù)幾何處理的基本理論、方法及應(yīng)用。
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