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等離子體蝕刻及其在大規(guī)模集成電路制造中的應(yīng)用(第2版)
本書(shū)共10章,基于公開(kāi)文獻(xiàn)全方位地介紹了低溫等離子體蝕刻技術(shù)在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的應(yīng)用及潛在發(fā)展方向。以低溫等離子體蝕刻技術(shù)發(fā)展史開(kāi)篇,對(duì)傳統(tǒng)及已報(bào)道的先進(jìn)等離子體蝕刻技術(shù)的基本原理做相應(yīng)介紹,隨后是占據(jù)了本書(shū)近半篇幅的邏輯和存儲(chǔ)器產(chǎn)品中等離子體蝕刻工藝的深度解讀。此外,還詳述了邏輯產(chǎn)品可靠性及良率與蝕刻工藝的內(nèi)在聯(lián)系,聚焦了特殊氣體及特殊材料在等離子體蝕刻方面的潛在應(yīng)用。最后是先進(jìn)過(guò)程控制技術(shù)在等離子體蝕刻應(yīng)用方面的重要性及展望,以及虛擬制造在集成電路發(fā)展中的應(yīng)用。 本書(shū)可以作為從事等離子體蝕刻工藝研究和應(yīng)用的研究生和工程技術(shù)人員的參考書(shū)籍。
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