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互換性與技術(shù)測(cè)量
本書(shū)主要包括概論、尺寸極限與配合、配合公差的應(yīng)用、幾何公差及檢測(cè)、公差原則及幾何公差選擇、表面粗糙度、光滑極限量規(guī)、尺寸鏈、公稱尺寸常用測(cè)量工具等內(nèi)容, 集理論教學(xué)、實(shí)操實(shí)訓(xùn)為一體, 采用最新國(guó)家標(biāo)準(zhǔn), 文字?jǐn)⑹鼍珶? 內(nèi)容圖文并茂、通俗易懂。
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