圖解入門——半導體制造設備基礎與構(gòu)造精講 原書第3版
定 價:99 元
叢書名:集成電路科學與技術(shù)叢書
- 作者:佐藤淳一
- 出版時間:2022/6/1
- ISBN:9787111708018
- 出 版 社:機械工業(yè)出版社
- 中圖法分類:TN305-64
- 頁碼:216
- 紙張:
- 版次:
- 開本:16
本書以簡潔明了的結(jié)構(gòu)向讀者展現(xiàn)了半導體制造工藝中使用的設備基礎和構(gòu)造。全書涵蓋了半導體制造設備的現(xiàn)狀以及展望,同時對清洗和干燥設備、離子注入設備、熱處理設備、光刻設備、蝕刻設備、成膜設備、平坦化設備、監(jiān)測和分析設備、后段制程設備等逐章進行解說。雖然包含了很多生澀的詞匯,但難能可貴的是全書提供了豐富的圖片和表格,幫助讀者進行理解。相信本書一定能帶領讀者進入一個半導體制造設備的立體世界。
本書適合從事半導體與芯片加工、設計的從業(yè)者,以及準備涉足上述領域的上班族和學生閱讀參考。
此版本僅限在中國大陸地區(qū)(不包括香港、澳門特別行政區(qū)及臺灣地區(qū))銷售。
前言
半導體制造設備行業(yè)的現(xiàn)狀/
1.1總覽半導體制造設備/
半導體制造設備的地位/
本書的脈絡/
制造設備和制造工藝流程的關(guān)系/
1.2半導體制造設備的市場規(guī)模/
半導體行業(yè)的市場規(guī)模/
電子行業(yè)的市場規(guī)模/
硅晶圓的市場規(guī)模/
1.3半導體設備制造商和范式轉(zhuǎn)移/
半導體黎明期的制造設備/
半導體制造設備制造商的變遷/
范式轉(zhuǎn)移/
代工廠·無晶圓廠的登場/
1.4日本半導體設備制造商的現(xiàn)狀/
半導體行業(yè)的結(jié)構(gòu)/
日本國內(nèi)半導體制造商的現(xiàn)狀/
日本制造商的停滯/
1.5晶圓廠的現(xiàn)狀/
多樣的產(chǎn)品和半導體晶圓廠/
巨型晶圓廠/
1.6晶圓廠的多樣化/
晶圓廠的生產(chǎn)效能/
巨型晶圓廠以外的方案/
迷你晶圓廠的方案/
研究開發(fā)/
設備制造商未來的挑戰(zhàn)/
1.7硅晶圓450mm化的現(xiàn)狀/
硅晶圓的尺寸/
450mm化的趨勢/
全球450mm化的動向/
半導體制造設備的難題/
理解晶圓廠中的半導體制造設備/
2.1前段制程和后段制程/
半導體工藝流程的分類/
前端和后端/
2.2硅晶圓的用途/
硅晶圓和半導體制造設備/
2.3晶圓搬運和制造設備/
什么是晶圓搬運?/
晶圓和設備/
2.4晶圓廠和制造設備/
什么是晶圓廠?/
從晶圓的搬運角度了解晶圓廠/
2.5無塵室和制造設備/
什么是無塵室?/
制造設備的無塵化/
2.6微環(huán)境/
什么是微環(huán)境?/
什么是FOUP?/
2.7制造設備所需的性能/
制造設備需要滿足的性能和功能/
2.8賦予半導體設備以生命力的設施/
設施/
晶圓廠需要的設施/
2.9制造設備的產(chǎn)能和晶圓廠的運營/
什么是制造設備的產(chǎn)能?/
制造設備的稼動率/
2.10制造設備和生產(chǎn)管理/
什么是生產(chǎn)管理?/
AEC/APC/
設備的標準化/
清洗和干燥設備/
3.1什么是清洗和干燥設備?/
清洗設備的要素/
清洗和干燥設備的要素/
3.2清洗設備的分類/
一般的清洗設備分類/
根據(jù)方法論的清洗設備的分類/
3.3批量式清洗設備/
什么是批量式清洗設備?/
多槽式和單槽式/
3.4單片式清洗設備/
什么是單片式清洗設備?/
單片式干燥設備/
3.5新型清洗設備/
高頻蒸汽清洗設備/
紫外線(UV)/臭氧清洗設備/
超低溫氣溶膠清洗設備/
晶圓廠中各式各樣的清洗設備/
3.6清洗后必備的干燥設備/
都有哪些干燥設備?/
旋轉(zhuǎn)干燥法/
IPA干燥法/
3.7開發(fā)中的新型干燥設備/
馬蘭戈尼設備的要素/
Rotagoni干燥設備的要素/
離子注入設備/
4.1什么是離子注入設備?/
什么是離子注入?/
離子注入設備的構(gòu)成要素/
4.2離子源/
含有離子源物質(zhì)的氣體/
弗里曼型離子源/
伯納斯(Bernus)型離子源/
4.3晶圓和離子注入設備/
離子注入設備中的晶圓掃描/
晶圓掃描設備的課題/
4.4制造CMOS的離子注入設備/
各種擴散層形成的CMOS/
不同加速能量和束電流的離子注入設備/
其他離子注入技術(shù)/
4.5離子注入的替代技術(shù)/
等離子摻雜設備/
激光摻雜設備/
熱處理設備/
5.1什么是熱處理設備?/
什么是晶體恢復熱處理設備?/
熱處理設備的要素/
5.2歷史悠久的批量式熱處理設備/
關(guān)于熱處理設備/
熱處理設備的石英爐/
5.3單片式RTA設備/
什么是RTA設備?/
溫度測量/
RTA設備的燈具/
5.4最新的激光退火設備/
什么是激光退火?/
激光退火設備和RTA設備的區(qū)別/
5.5準分子激光源/
什么是準分子激光器?/
通往設備的激光路徑/
什么是固體激光器?/
光刻設備/
6.1多樣的光刻設備/
什么是光刻工藝和光刻設備?/
光刻工藝流程和設備/
6.2決定精細化的曝光設備/
曝光設備的不同曝光方式/
縮影式曝光設備的繪制方法/
曝光設備的構(gòu)成要素/
曝光設備的光學系統(tǒng)/
6.3推進精細化進程的曝光光源的發(fā)展/
光源的歷史/
未來的光源/
6.4曝光所需的抗蝕劑涂布設備/
抗蝕劑和涂布機的關(guān)系/
現(xiàn)實中的旋涂設備/
抗蝕劑涂布設備的要素/
6.5曝光后所需的顯影設備/
什么是顯影工藝?/
現(xiàn)實中的顯影設備/
關(guān)于顯影工藝的液體堆積/
6.6光刻設備的集成/
什么是內(nèi)聯(lián)化?/
三次元的趨勢/
6.7灰化設備/
什么是灰化?/
灰化工藝和設備/
內(nèi)置灰化設備/
6.8液浸式曝光設備/
什么是液浸式曝光設備?/
液浸曝光技術(shù)的原理和課題/
6.9雙重圖案所需的設備/
什么是雙重圖案?/
需要什么設備?/
未來的課題/
6.10進一步追求精細化的EUV設備/
什么是EUV曝光技術(shù)?/
反射光學系統(tǒng)和掩膜/
EUV曝光設備的課題/
6.11掩膜形成技術(shù)和設備/
掩膜(瞄準鏡)和它的進展/
關(guān)于EB直繪設備/
蝕刻設備/
7.1什么是蝕刻工藝和設備?/
什么是蝕刻工藝?/
7.2蝕刻設備的構(gòu)成要素/
蝕刻設備的組成/
干法蝕刻設備的工藝室/
7.3高頻電源的施加方法與蝕刻設備/
產(chǎn)生等離子體的條件/
什么是等離子體電位?/
陰極耦合的優(yōu)點/
按工藝分類的蝕刻設備/
7.4蝕刻設備的歷史/
干法蝕刻的登場/
干法蝕刻設備的演變/
7.5集群工具化的干法蝕刻設備/
什么是集群工具?/
各種集群工具/
7.6其他干法蝕刻設備/
適應高精度化趨勢的蝕刻設備/
成膜設備/
8.1什么是成膜設備?/
什么是半導體工藝的成膜?/
成膜設備的構(gòu)成要素/
成膜的參數(shù)和方法/
8.2基礎中的基礎:熱氧化設備/
硅氧化工藝和設備/
硅氧化設備的構(gòu)成要素/
8.3歷史悠久的常壓CVD設備/
什么是常壓CVD工藝?/
常壓CVD設備的構(gòu)成要素/
常壓CVD設備的示例/
8.4前端的減壓CVD設備/
什么是減壓CVD工藝?/
減壓CVD設備的構(gòu)成要素/
8.5金屬成膜的減壓CVD設備/
什么是金屬成膜工藝?/
包封鎢成膜設備/
8.6低溫化的等離子體CVD設備/
什么是等離子體工藝?/
等離子體CVD設備的構(gòu)成要素/
8.7金屬膜所需的濺射設備/
濺射法的原理/
什么是靶材?/
濺射法的優(yōu)點和缺點/
8.8鑲嵌結(jié)構(gòu)和電鍍設備/
什么是電鍍工藝?/
電鍍設備的構(gòu)成要素/
8.9lowk(低介電常數(shù))成膜所需的涂布設備/
為什么需要涂布工藝?/
涂布工藝的課題/
涂布設備的構(gòu)成要素/
8.10highk柵極堆棧中ALD設備的應用/
ALD工藝和highk柵極堆棧/
ALD設備的構(gòu)成要素/
8.11特殊用途的SiGe外延生長設備/
什么是外延生長工藝?/
外延生長設備的構(gòu)成要素/
應變硅和SiGe的外延成長/
平坦化設備/
9.1平坦化設備的特征/
平坦化工藝和設備/
平坦化設備的構(gòu)成要素/
9.2各種平坦化設備的登場/
皮帶式的平坦化設備/
牽引式的平坦化設備/
9.3平坦化設備和后清洗功能/
什么是平坦化后清洗?/
后清洗模塊的構(gòu)成要素/
9.4什么是平坦化研磨頭?/
什么是保持器?/
什么是背膜?/
什么是修整器?/
9.5平坦化設備的研磨液和研磨墊/
研磨液的供給/
研磨墊/
9.6端點監(jiān)測機制/
什么是端點監(jiān)測?/
實際中的端點監(jiān)測方法/
監(jiān)測和分析設備/
10.1工藝結(jié)束后發(fā)揮作用的測量設備/
測量內(nèi)容/
半導體工程和測定內(nèi)容/
性能要求/
10.2前段制程的監(jiān)測站/
外觀監(jiān)測設備的概要/
共焦顯微鏡的概要/
10.3發(fā)現(xiàn)顆粒的表面監(jiān)測設備/
顆粒是大敵/
顆粒監(jiān)測的原理/
表面監(jiān)測設備的實際情況/
10.4帶圖案晶圓的缺陷監(jiān)測設備/
什么是帶圖案晶圓的缺陷監(jiān)測設備?/
帶圖案晶圓的監(jiān)測原理/
帶圖案晶圓的監(jiān)測設備的概要/
10.5用于觀察晶圓的SEM/
什么是SEM?/
SEM的概要/
10.6監(jiān)測精細化尺寸的測長SEM/
什么是測長SEM?/
測長SEM的原理/
10.7光刻必需的重疊監(jiān)測設備/
什么是重疊精度?/
重疊監(jiān)測的原理/
10.8膜厚測量設備和其他測量設備/
膜厚測量的原理/
顯微鏡的趨勢/
其他測量設備/
10.9觀察斷面的TEM/FIB/
什么是TEM?/
什么是FIB?/
FIB的應用/
10.10通過監(jiān)測和分析設備的整合提高成品率/
缺陷分析的基礎知識/
利用FMB進行比較/
后段制程設備/
11.1后段制程的工藝流程和主要設備/
什么是后段制程?/
后段制程的晶圓廠和設備/
11.2測量電氣特性的探測設備/
探測設備的作用/
什么是探測設備?/
什么是探針卡?/
11.3晶圓減薄的背磨設備/
什么是背磨?/
背磨設備的概要/
11.4切割芯片的切片機/
實際的切片/
切片機的概要/
11.5貼合芯片的貼片機/
什么是貼片?/
貼片的方法/
貼片機的概要/
11.6用于引線框接合的打線設備/
打線的原理/
打線設備的概要/
11.7封裝芯片的塑封設備/
塑封工藝的流程/
塑封設備的概要/
11.8毛刺清除和包裝設備/
什么是印字設備?/
包裝設備/
11.9最終監(jiān)測設備和老化設備/
后段制程的最終監(jiān)測工程/
什么是老化?/
什么是老化設備?