高能宇宙射線與大氣相互作用產(chǎn)生大量次級中子，在半導(dǎo)體器件中引起中子單粒子效應(yīng)，可導(dǎo)致電子系統(tǒng)產(chǎn)生軟錯誤或者硬損傷，影響飛機(jī)或者臨近空間飛行器飛行的可靠性和安全性。本書主要介紹大氣中子輻射環(huán)境及建模、中子輻射模擬裝置和中子輻射環(huán)境測量技術(shù)、中子單粒子效應(yīng)機(jī)理與數(shù)值模擬方法，以及實(shí)驗(yàn)方法和數(shù)據(jù)處理方法，并給出單能中子源、散裂中子源、核反應(yīng)堆、高山等典型環(huán)境的中子單粒子效應(yīng)實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

更多科學(xué)出版社服務(wù)，請掃碼獲取。