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應(yīng)用中子物理學(xué)實(shí)驗(yàn)

應(yīng)用中子物理學(xué)實(shí)驗(yàn)

定  價(jià):29 元

        

  • 作者:黑大千
  • 出版時(shí)間:2022/6/1
  • ISBN:9787030719003
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:O571.5-33 
  • 頁碼:108
  • 紙張:
  • 版次:31
  • 開本:B5
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讀者對(duì)象:可供核科學(xué)與技術(shù)相關(guān)專業(yè)本科生和研究生教學(xué)使用,也可作為相關(guān)專業(yè)選修教材以及從事相關(guān)專業(yè)的教學(xué)科研人員的參考用書。

本書介紹了中子的基本性質(zhì)、中子與物質(zhì)的相互作用、常見中子源及中子探測(cè)器的一些基礎(chǔ)知識(shí);較為系統(tǒng)地介紹了應(yīng)用中子物理學(xué)中常見、基礎(chǔ)性實(shí)驗(yàn),主要包括:中子通量測(cè)量、中子能譜測(cè)量、中子場(chǎng)劑量測(cè)量、中子防護(hù)與屏蔽、核素俘獲中子截面測(cè)量、中子活化分析以及常見中子技術(shù)應(yīng)用拓展等;并提供了常用中子源及其特性、元素與常見分子的截面和核參數(shù)、常用放射性核素及其參數(shù)等工具性數(shù)據(jù)。

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