本書針對電子產品的可靠性問題，從故障物理的角度，闡述產品在各種環(huán)境和載荷條件下的可靠性分析與風險評估方法，適用于各科研機構、大專院校相關專業(yè)人員進行教學與科研參考，同時也適用于從事電子產品設計、分析、試驗以及可靠性和風險分析的工程師進行參考。