《衛(wèi)星環(huán)境工程和模擬試驗（下）》概括介紹了空間環(huán)境工程方面的基本概念和工程應用。分上、下兩冊，上冊為空間環(huán)境工程，下冊為動力學環(huán)境工程。上冊重點論述衛(wèi)星空間環(huán)境試驗中的真空技術、低溫技術、太陽輻照技術，空間模擬器設計，熱控試驗方法等。下冊重點論述衛(wèi)星環(huán)境振動、沖擊、聲學試驗方法與測試技術，結構模態(tài)分析與試驗等。
《衛(wèi)星環(huán)境工程和模擬試驗（下）》可供從事航天工程與質量保證的工程技術人員閱讀，也可作為高等院校相關專業(yè)師生的參考書。
第13章 衛(wèi)星動力學環(huán)境試驗
13.1 概述
13.2 衛(wèi)星動力學環(huán)境試驗的設計
13.3 環(huán)境預示和試驗條件的制定
13.3.1 環(huán)境預示方法
13.3.2 試驗條件的制定
13.4 動力學環(huán)境的模擬與等效
13.4.1 環(huán)境模擬方法
13.4.2 模擬的等效問題
13.5 試驗的實施
13.6 發(fā)展趨勢
參考文獻
第14章 衛(wèi)星的振動環(huán)境模擬及試驗技術
14.1 概述
14.2 衛(wèi)星的振動環(huán)境
14.2.1 振源分析
14.2.2 振動環(huán)境效應
14.2.3 振動環(huán)境預示
14.3 振動環(huán)境模擬試驗
14.3.1 振動試驗目的
14.3.2 振動試驗類型
14.3.3 振動試驗條件
14.3.4 整星正弦掃描振動試驗條件的修正
14.3.5 模擬隨機振動環(huán)境的正弦掃描振動試驗條件
14.4 振動試驗設備
14.4.1 振動臺
14.4.2 振動控制系統(tǒng)
14.4.3 測振儀器
14.4.4 振動試驗輔助設備
14.5 振動試驗夾具
14.5.1 夾具對振動試驗的重要性
14.5.2 夾具設計的基本原則
14.5.3 夾具的加工
14.5.4 夾具的固有頻率估算
14.5.5 設計步驟與應注意的問題
14.5.6 夾具的鑒定
14.6 正弦振動試驗
14.6.1 常用參數(shù)的換算
14.6.2 試驗條件及其容差
14.6.3 試驗方法
14.7 隨機振動試驗
14.7.1 試驗條件及其容差
14.7.2 試驗方法
14.8 衛(wèi)星整星振動試驗
14.9 振動試驗響應數(shù)據(jù)處理
14.9.1 正弦掃描振動數(shù)據(jù)處理
14.9.2 隨機振動數(shù)據(jù)處理
參考文獻
第15章 衛(wèi)星聲環(huán)境模擬及試驗技術
15.1 概述
15.1.1 衛(wèi)星的聲環(huán)境
15.1.2 衛(wèi)星運載火箭的排氣噪聲
15.1.3 衛(wèi)星的氣動噪聲
15.1.4 衛(wèi)星的聲環(huán)境模擬
15.2 衛(wèi)星聲環(huán)境的預示和試驗條件
15.2.1 聲環(huán)境預示方法
15.2.2 聲試驗務件
15.3 衛(wèi)星聲試驗裝置
15.3.1 混響試驗裝置
15.3.2 行波試驗裝置
15.3.3 聲源
15.3.4 氣源
15.3.5 控制設備
15.4 衛(wèi)星聲試驗技術
15.4.1 混響聲場試驗方法
15.4.2 行波聲場試驗方法
15.4.3 聲試驗的控制技術
15.5 聲試驗的測試和數(shù)據(jù)處理
15.5.1 聲環(huán)境的參數(shù)測量
15.5.2 聲環(huán)境參數(shù)的數(shù)據(jù)處理
參考文獻
第16章 衛(wèi)星沖擊環(huán)境模擬及試驗技術
16.1 概述
16.1.1 衛(wèi)星的沖擊環(huán)境
16.1.2 爆炸沖擊環(huán)境的模擬
16.2 衛(wèi)星沖擊環(huán)境預示與試驗條件的制定
16.2.1 環(huán)境預示
16.2.2 沖擊試驗條件的制定
16.2.3 試驗條件的容許偏差和其他要求
16.2.4 整星沖擊試驗要求
16.3 沖擊試驗設備
16.3.1 落下式沖擊試驗機
16.3.2 數(shù)控振動臺系統(tǒng)
16.3.3 火工品爆炸沖擊模擬裝置
16.3.4 撞擊式試驗裝置
16.4 沖擊試驗中的技術問題
16.5 沖擊試驗的數(shù)據(jù)處理
16.5.1 沖擊測試設備及其基本要求
16.5.2 數(shù)據(jù)處理
16.5.3 沖擊譜數(shù)字計算中的參數(shù)選擇
16.6 爆炸沖擊環(huán)境模擬技術發(fā)展趨勢
參考文獻
第17章 衛(wèi)星加速度環(huán)境及其模擬試驗
17.1 概述
17.1.1 衛(wèi)星加速度環(huán)境的特點
17.1.2 環(huán)境預示和試驗條件的制定
17.1 _3加速度環(huán)境的模擬
17.2 靜載荷試驗
17.2.1 試驗目的和類型
17.2.2 試驗設備
17.2.3 試驗技術
17.2.4 數(shù)據(jù)采集和處理
17.2.5 實例——通信衛(wèi)星的結構靜栽荷試驗
17.3 離心機試驗
17.3.1 離心機構造
17.3.2 試驗技術
17.4 發(fā)射階段的綜合環(huán)境試驗
17.4.1 衛(wèi)星發(fā)射階段的綜合環(huán)境
17.4.2 試驗設備
參考文獻
第18章 衛(wèi)星結構模態(tài)試驗
18.1 概述
18.2 衛(wèi)星結構模態(tài)試驗的理論基礎
18.2.1 多自由度線性結構系統(tǒng)的運動方程
……
第19章 衛(wèi)星外伸空間力學環(huán)境模
實踐發(fā)現(xiàn)，由于需要，許多經過鑒定試驗的衛(wèi)星也被用來發(fā)射上天，而且都工作正常，可靠性并未降低。因此，國外逐步改變了以前的做法：在一定條件下，允許經過鑒定試驗后的產品用于飛行，而對鑒定試驗的條件則要作適當修改，或降低試驗量級，或縮短試驗時間，目的是既達到鑒定試驗的目的，又不過多影響被試產品的有效壽命。這種所謂“原型飛行”（Protoflight）原理的應用，對環(huán)境試驗條件乃至整個環(huán)境試驗大綱的制定都產生了一定的影響。目前中國已經這樣做了。
另外，為了保證衛(wèi)星的可靠性，先必須對星上所用電子元器件進行極嚴格的篩選和老練。這種篩選和老練也要通過一定的外加環(huán)境載荷，如振動、溫度等來實現(xiàn)。這也是環(huán)境試驗的一種應用。在此基礎上，對衛(wèi)星的部件、組件、分系統(tǒng)，直至整個衛(wèi)星逐級地進行環(huán)境試驗。組裝級別越低，試驗條件也就越嚴格，其目的是使衛(wèi)星存在的隱患盡可能在低的組裝級上通過環(huán)境試驗來暴露和排除，這樣既節(jié)省時間又減少經濟上的損失。一個隱藏的缺陷，如果未能在較低的組裝級上被排除，則在較高的組裝級排除時所花的代價要高得多。據(jù)國外估計，每升高一個組裝級，排除缺陷所花的代價將增加十倍。如果使用一個有隱患的電子元器件而未被及時發(fā)現(xiàn)，則當衛(wèi)星總裝好后再來排除它，所要付出的代價將為原先的一萬倍或更高。
由上所述，環(huán)境試驗與衛(wèi)星的研制過程緊密相聯(lián)系，并貫穿在整個衛(wèi)星的研制過程中。通過逐級、嚴格的環(huán)境試驗，暴露和排除各類故障，而使衛(wèi)星的可靠性不斷增長。
2）根據(jù)環(huán)境預示結果確定環(huán)境試驗條件。在衛(wèi)星研制開始階段需要提出的環(huán)境設計要求和環(huán)境試驗條件是以環(huán)境預示結果為依據(jù)的。環(huán)境預示結果是否正確，是試驗條件定得合理與否的重要前提。環(huán)境試驗條件定得太嚴，會使產品因過試驗而受到不應有的損壞，并不得不修改產品設計來通過試驗，結果增加研制成本，影響研制進度。
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