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數(shù)字電路老化預(yù)測(cè)與容忍

數(shù)字電路老化預(yù)測(cè)與容忍

定  價(jià):30 元

        

  • 作者:徐輝
  • 出版時(shí)間:2018/2/1
  • ISBN:9787312043598
  • 出 版 社:中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN431.2 
  • 頁(yè)碼:123頁(yè)
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16K
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本書(shū)圍繞負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性引起的集成電路老化的預(yù)測(cè)與動(dòng)態(tài)電路老化防護(hù)來(lái)展開(kāi)研究,主要針對(duì)集成電路老化的預(yù)測(cè)和集成電路老化的容忍進(jìn)行分析;對(duì)于高性能集成電路中常用的多米諾電路,針對(duì)其老化研究容忍方法,并提出對(duì)多米諾電路低功耗與抗老化的聯(lián)合優(yōu)化方法。
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