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強耦合雙光學(xué)微腔系統(tǒng)中單粒子的操控與測量

強耦合雙光學(xué)微腔系統(tǒng)中單粒子的操控與測量

定  價:79 元

        

  • 作者:郭龑強 著
  • 出版時間:2018/7/1
  • ISBN:9787118116472
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O572.21 
  • 頁碼:159
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:32開
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  《強耦合雙光學(xué)微腔系統(tǒng)中單粒子的操控與測量》主要圍繞強耦合雙光學(xué)微腔的構(gòu)建及單原子的俘獲與測量展開,利用搭建完成的高精細度雙光學(xué)微腔系統(tǒng),介紹對單個原子的俘獲和測量得到的結(jié)果,不同光場非經(jīng)典統(tǒng)計特性的理論和實驗的內(nèi)容,最后介紹了基于雙Cavity QED系統(tǒng)飛行比特之間的糾纏轉(zhuǎn)移、信息傳遞和內(nèi)態(tài)操控等內(nèi)容。
  《強耦合雙光學(xué)微腔系統(tǒng)中單粒子的操控與測量》內(nèi)容涉及量子光學(xué)和原子物理等方面知識,適宜相關(guān)領(lǐng)域的研究生學(xué)習(xí)和參考。
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