裂尖應(yīng)變場(chǎng)原位實(shí)驗(yàn)研究
定 價(jià):25 元
叢書(shū)名:國(guó)家自然科學(xué)基金、國(guó)家留學(xué)基金、內(nèi)蒙古自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目研究成果
- 作者:李繼軍
- 出版時(shí)間:2018/9/1
- ISBN:9787111598213
- 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
- 中圖法分類:O483-33
- 頁(yè)碼:
- 紙張:膠版紙
- 版次:
- 開(kāi)本:32開(kāi)
本書(shū)在介紹固體缺陷及線彈性斷裂力學(xué)理論、掃描電子顯微鏡原理及結(jié)構(gòu)、幾何相位分析方法等的基礎(chǔ)上,將原位掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)與幾何相位分析方法相結(jié)合,深入分析了5A05鋁合金、多晶鉬及單晶硅中微裂紋的萌生及擴(kuò)展過(guò)程,研究了裂紋尖端的微米尺度及亞微米尺度應(yīng)變場(chǎng)。
微裂紋是固體材料中一種非常重要的缺陷,它在材料的強(qiáng)度、失效以及其他結(jié)構(gòu)敏感性問(wèn)題研究中起著至關(guān)重要的作用。微裂紋的擴(kuò)展最終會(huì)導(dǎo)致材料斷裂,甚至?xí)斐蔀?zāi)難性的后果。盡管許多研究者在材料微裂紋方面做了大量的研究工作,但由于實(shí)驗(yàn)設(shè)備和技術(shù)上的局限性,人們對(duì)裂紋的形核及擴(kuò)展機(jī)制、裂紋尖端的動(dòng)態(tài)變化情況還不明確,許多很有價(jià)值的理論還需要用實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)一步驗(yàn)證和支持。
因此,斷裂理論的發(fā)展急需對(duì)微裂紋的形核、擴(kuò)展過(guò)程以及微裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)進(jìn)行高精度實(shí)驗(yàn)觀測(cè)。
原位掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)可以實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)地研究材料在加載時(shí)的響應(yīng),近年來(lái)成為一種非常有效且直觀的斷裂研究手段。幾何相位分析方法是一種基于高分辨率分析儀器和數(shù)字圖像處理技術(shù)的高精度納米尺度實(shí)驗(yàn)力學(xué)測(cè)試技術(shù)。本書(shū)將原位掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)與幾何相位分析方法相結(jié)合,深入分析了5A05鋁合金、多晶鉬及單晶硅中微裂紋的萌生及擴(kuò)展過(guò)程,研究了微裂紋尖端的微米尺度及亞微米尺度應(yīng)變場(chǎng),并與線彈性理論解進(jìn)行了比較。
本書(shū)的研究工作得到了國(guó)家自然科學(xué)基金(11562016,11672175,11762013)、國(guó)家留學(xué)基金(20145049) 及內(nèi)蒙古自然科學(xué)基金(2018MS01013,2013MS0107)經(jīng)費(fèi)資助,在此表示衷心的感謝。
在本書(shū)的編寫(xiě)過(guò)程中,得到了上海海事大學(xué)趙春旺教授、內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)邢永明教授、內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)趙燕茹教授、內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)郎風(fēng)超副教授的悉心指導(dǎo),在此向他們表示衷心的感謝;研究生張偉光、翟毅、李士杰、聶曉夢(mèng)等參與了本書(shū)的校稿和檢查等工作,在此對(duì)他們的辛勤勞動(dòng)表示衷心的感謝。
由于編寫(xiě)水平有限,書(shū)中錯(cuò)誤和不足之處在所難免,敬請(qǐng)讀者批評(píng)指正。
李繼軍
目錄
前 言
第1章 緒論1
1.1 固體缺陷1
。.1.1 點(diǎn)缺陷2
。.1.2 線缺陷5
。.1.3 面缺陷6
。.1.4 體缺陷7
。.2 微裂紋研究進(jìn)展9
。.3 實(shí)驗(yàn)力學(xué)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展14
。.4 本書(shū)內(nèi)容安排19
第2章 線彈性斷裂力學(xué)理論22
。.1 斷裂力學(xué)概述22
2.2 斷裂的分類25
。.3 線彈性斷裂力學(xué)基礎(chǔ)理論29
2.3.1。牵颍椋妫妫椋簦栉⒘鸭y理論及修正30
2.3.2 裂紋尖端附近的應(yīng)力場(chǎng)和應(yīng)力強(qiáng)度因子33
。.3.3 斷裂韌度及裂紋失穩(wěn)擴(kuò)展判據(jù)35
。.4 本章小結(jié)
第3章 掃描電子顯微鏡38
。.1 掃描電子顯微鏡發(fā)展概述38
。.2 掃描電子顯微鏡的性能特點(diǎn)40
。.3 掃描電子顯微鏡的工作原理42
。.4 掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)43
。.5 掃描電子顯微鏡的分類46
。.6 掃描電子顯微鏡圖像的襯度形成原理49
。.7 本章小結(jié)51
第4章 幾何相位分析方法52
。.1 幾何相位分析方法的原理52
。.2 幾何相位分析的步驟56
。.3 掩模大小對(duì)幾何相位分析方法測(cè)定結(jié)果的影響分析57
。.3.1 實(shí)驗(yàn)過(guò)程57
。.3.2 結(jié)果與討論58
。.4 本章小結(jié)61
第5章。担粒埃典X合金微裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)原位實(shí)驗(yàn)研究62
。.1 實(shí)驗(yàn)方法62
。.1.1 幾何相位分析方法62
5.1.2 數(shù)字圖像相關(guān)方法62
。.1.3 試樣的制備64
5.1.4 原位掃描電子顯微鏡三點(diǎn)彎曲實(shí)驗(yàn)65
。.2 結(jié)果與討論66
。.2.1 微裂紋萌生及擴(kuò)展分析66
。.2.2 微裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)分析70
。.3 本章小結(jié)77
第6章 多晶鉬微裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)原位實(shí)驗(yàn)研究 79
。.1 理論模型79
6.2 實(shí)驗(yàn)方法81
。.2.1 幾何相位分析方法81
。.2.2 試樣的制備81
。.2.3 原位掃描電子顯微鏡單軸拉伸實(shí)驗(yàn)83
。.3 結(jié)果與討論84
6.4 本章小結(jié)89
第7章 單晶硅微裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)原位實(shí)驗(yàn)研究91
。.1 理論模型92
7.2 實(shí)驗(yàn)方法92
。.2.1 幾何相位分析方法92
。.2.2 試樣的制備92
。.2.3 原位掃描電子顯微鏡單軸拉伸實(shí)驗(yàn)94
。.3 結(jié)果與討論94
。.4 本章小結(jié)100
第8章 總結(jié)和展望102
8.1 總結(jié)102
。.2 展望106
參考文獻(xiàn)108